信頼性 - 環境
Sep 28, 2024
信頼性 - 環境信頼性分析は、製品の品質を基礎とする定量的データに基づいており、実験シミュレーションを通じて、与えられた時間内での製品、特定の使用環境条件、特定の仕様の実施、作業目標の成功確率を定量的データとして製品の品質保証の基礎とします。その中でも、環境テストは信頼性分析における一般的な分析項目です。環境信頼性テストは、製品が使用、輸送、保管されるすべての状況下で、指定された寿命期間中に製品の機能的信頼性が維持されることを確認するために実行されるテストです。具体的なテスト方法は、製品を自然または人工の環境条件にさらし、実際の使用、輸送、保管の環境条件下での製品の性能を評価し、環境要因の影響とその作用メカニズムを分析することです。Sembcorp のナノ信頼性分析研究所では、主に温度、湿度、バイアス、アナログ IO などの条件を上げ、IC 設計要件に従って老化を加速する条件を選択して IC の信頼性を評価します。主なテスト方法は次のとおりです。TC温度サイクル試験実験規格: JESD22-A104目的: サンプルに対する温度変化の影響を加速する試験手順: サンプルは試験室に置かれ、指定された温度間を循環し、各温度で少なくとも 10 分間保持されます。温度の極限は、試験方法で選択された条件によって異なります。総応力は、指定された温度で完了したサイクルの数に対応します。設備の容量温度範囲 -70℃〜+180℃温度変化率15℃/分リニア内部容積 160L内部寸法 幅800×高さ500×奥行400mm外形寸法幅1000×高さ1808×奥行1915mmサンプル量 25 / 3ロット時間/パス 700 サイクル / 0 失敗2300 サイクル / 0 失敗BLT高温バイアステスト実験規格: JESD22-A108目的: 高温バイアスがサンプルに与える影響試験手順:サンプルを実験室に入れ、電源に規定の電圧と電流制限値を設定し、室温で動作させて、電源に制限電流が発生するかどうかを観察し、入力チップ端子電圧が期待どおりかどうかを測定し、室温での電流値を記録し、チャンバー内の規定温度を設定します。温度が設定値で安定したら、高温で電源を入れ、高温電流値を記録します。設備容量:温度範囲 +20℃〜+300℃内部容積 448L内部寸法 幅800×高さ800×奥行700mm外形寸法幅1450×高さ1215×奥行980mmサンプル量 25 / 3ロット時間/パス ケース温度 125℃、1000時間/故障なしHAST 高度加速ストレステスト実験規格: JESD22-A110/A118 (EHS-431ML、EHS-222MD)目的: HAST は、温度、湿度、圧力、バイアスなど、一定の複数のストレス条件を提供します。湿気の多い環境で動作する非密閉パッケージ機器の信頼性を評価するために実施されます。複数のストレス条件により、カプセル化モールド コンパウンドを介した水分の浸入、またはカプセル化を通過する外部保護材料と金属導体との界面に沿った水分の浸入が加速される可能性があります。水がむき出しの部分の表面に達すると、印加電位によって電解状態が発生し、アルミニウム導体が腐食してデバイスの DC パラメータに影響します。塩素などのチップ表面に存在する汚染物質は、腐食プロセスを大幅に加速する可能性があります。さらに、これらの条件下では、不動態化層内のリンが多すぎると反応する可能性もあります。デバイス 1 とデバイス 2設備容量:サンプル量 25 / 3ロット時間/パス 130℃、85%RH、96時間/不合格0件110℃、85%RH、264時間/不合格0件デバイス 1温度範囲-105℃〜+142.9℃湿度範囲 75%RH〜100%RH圧力範囲 0.02〜0.196MPa内部容積 51L内部寸法 幅355×高さ355×奥行426mm外形寸法幅860×高さ1796×奥行1000mmデバイス2温度範囲-105℃〜+142.9℃湿度範囲 75%RH〜100%RH圧力範囲 0.02〜0.392MPa内部容積 180L内部寸法 幅569×高さ560×奥行760mm外形寸法幅800×高さ1575×奥行1460mmTHB温度湿度サイクルテスト実験規格: JESD22-A101目的: 温度と湿度の変化がサンプルに与える影響実験手順:サンプルを実験室に入れ、電源に指定された電圧と電流制限値を設定し、室温で動作させて、電源に制限電流が発生するかどうかを観察し、入力チップ端子電圧が期待どおりかどうかを測定し、室温での電流値を記録し、チャンバー内の指定温度を設定します。温度が設定値で安定したら、高温で電源を入れ、高温電流値を記録します。設備容量:温度範囲-40℃〜+180℃湿度範囲 10%RH〜98%RH温度変換率3℃/分内部容積 784L内部寸法 幅1000×高さ980×奥行800mm外形寸法幅1200×高さ1840×奥行1625mmサンプル量 25 / 3ロット時間/パス 85℃、85%RH、1000時間/0回不合格手順温度と湿度のサイクル、温度が100℃を超えると湿度がなくなる TSA&TSB温度衝撃テスト実験規格: JESD22-A106目的: サンプルに対する温度変化の影響を加速する試験工程:サンプルを試験チャンバーに入れ、チャンバー内を指定温度に設定します。加熱前にサンプルが金型に固定されていることを確認し、実験中にサンプルがチャンバー内に落下して損傷するのを防ぎます。設備容量: 米国運輸保安局 TSBS の温度範囲-70℃〜+200℃ -65℃〜+200℃温度変化率≤5分 <20代内部容積70L 4.5L 内部寸法 幅410×高さ460×奥行3700mm 幅150×高さ150×奥行200mm外形寸法幅1310×高さ1900×奥行1770mm 幅1200×高さ1785×奥行1320mm
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