環境条件は、電子部品、デバイス、システムの機能性と信頼性に大きく影響します。潜在的な弱点をできるだけ早く検出するには、通常の温度テストでは不十分な場合が多くあります。サンプルは、衝撃のような温度変化を何度も受ける必要があります。熱衝撃テストチャンバーを使用すると、-55 °C から +150 °C までの非常に急速な温度変化を実現できます。これにより、早期の故障を減らし、製品の信頼性を高めることができます。再現可能で、認証済みで、加速条件下でも使用できます。
2ゾーン熱試験室【導入】環境条件は、電子部品、デバイス、システムの機能性と信頼性に大きく影響します。潜在的な弱点をできるだけ早く検出するには、通常の温度テストでは不十分な場合が多くあります。サンプルは、衝撃のような温度変化を何度も受ける必要があります。熱衝撃テストチャンバーを使用すると、-55 °C から +150 °C までの非常に急速な温度変化を実現できます。これにより、早期の故障を減らし、製品の信頼性を高めることができます。再現可能で、認証済みで、加速条件下でも使用できます。【試験基準】IEC 60068-2-14 ナMIL-STD-810H、方法503.7MIL-STD-883L-1、方法1010.9JASO D 014-4
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