温度サイクル試験

温度サイクル試験

温度サイクルは、実際の使用環境でさまざまな電子部品が遭遇する温度条件をシミュレートするために、周囲温度差の範囲を変更し、温度の急激な上昇と下降を変化させることで、より厳しいテスト環境を提供できますが、材料テストに追加の影響が生じる可能性があることに注意する必要があります。温度サイクルテストの関連する国際標準テスト条件については、温度変化を設定する方法が 2 つあります。Macroshow Technology は、ユーザーが仕様に従って設定するのに便利な直感的な設定インターフェイスを提供します。合計ランプ時間を選択するか、1 分あたりの温度変化率で上昇速度と冷却速度を設定できます。

温度サイクル試験の国際仕様一覧:

総ランプ時間（分）: JESD22-A104、MIL-STD-8831、CR200315

1分あたりの温度変化（℃/分）：IEC 60749、IPC-9701、Bellcore-GR-468、MIL-2164

例: 鉛フリーはんだ接合部の信頼性試験

指示：鉛フリーはんだ接合部の信頼性試験では、試験条件によって温度変化の設定モードも異なります。例えば、（JEDEC JESD22-A104）では温度変化時間を合計時間[10分]で指定しますが、他の条件では温度変化率を[10℃/分]で指定します（100℃から0℃など）。1分間に10度の温度変化であれば、つまり合計温度変化時間は10分です。

100℃ [10分]←→0℃[10分]、ランプ：10℃/分、6500サイクル

-40℃[5分]←→125℃[5分]、ランプ：10分、

200サイクルチェック1回、2000サイクル引張試験[JEDEC JESD22-A104]

-40℃(15分)←→125℃(15分)、ランプ:15分、2000サイクル

例: LE​​D自動車照明（高出力LED）

LED自動車用ライトの温度サイクル試験条件は、-40℃～100℃で30分、総温度変化時間は5分、温度変化率に換算すると毎分28度（28℃/分）となります。

試験条件：-40℃（30分）←→100℃（30分）、ランプ：5分