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信頼性と安定性に優れた試験室

信頼性と安定性に優れた試験室

  • 高温低温試験室の水冷ユニットによる高圧故障 高温低温試験室の水冷ユニットによる高圧故障
    Jan 07, 2025
    高温低温試験室の水冷ユニットによる高圧故障1、 高温・低温試験室 冷媒充填量が多すぎます。このようなことは通常、オーバーホール後に発生し、主に吸入管と排気管の作動圧力、バランス作動圧力が高く、冷凍コンプレッサーの作動電流も高いという形で現れます。解決策: 吸入管と排気管の作動圧力とバランス作動圧力、およびその作動電流に応じて、定格負荷で空気を放出し、正常になるまで続けます。2、高温・低温試験室の水冷温度が高すぎるため、実際の凝縮効果が悪い。冷凍機の冷却水定格負荷は40~45℃で、温度が高く、ヒートパイプの放熱性が悪いため、必ず高い凝縮圧力が発生し、高温期にこの現象が発生します。解決方法:高温の原因は、遠心ファンがオンになっていないため水分配器が回転しないなど、密閉式冷却塔の一般的な故障であり、主に冷却循環水の温度が高く、急激に上昇することで現れます。平均外気温が高く、水路が短く、循環システムの水流量が少ないため、冷却循環水の温度は通常高いレベルに維持され、貯水池をアップグレードする方法で対処できます。3、高温試験室の水冷が不十分で、水量が定格値に達しない。具体的な性能は、発電機セットの内外の水圧差が減少(システムソフトウェアファンドの運転開始時の圧力差と比較)し、温度差が増加することである。解決方法:水の出力が不十分な理由は、システムソフトウェアの水またはガスが少ないためです。解決方法は、パイプラインの上部の空気に自動排気バルブを設置して排気管を開発することです。パイプラインのフィルターが詰まっているか、薄すぎると、透水性の作業能力が制限されるため、適切なフィルター装置を使用し、四半期ごとにフィルタースクリーンをクリアする必要があります。遠心ポンプが小さく、システムソフトウェアと一致していません。4、高低温試験室のクーラーの汚れや詰まり。凝縮水は通常飲料水に使用され、約40°Cでスケールが蓄積しやすく、密閉型冷却塔は垂直であるため、すぐにガスにさらされ、汚れや汚れたものが冷却システムに入りやすく、その結果、クーラーが汚れて詰まり、総伝熱面積が小さく、効率が低く、水の出力にも悪影響を及ぼします。その主な性能は、発電機セットの入口と出口の水圧差、温度差が大きくなり、ハンドクーラーの温度が非常に高くなり、クーラーの排気空調の銅管が熱くなることです。解決策: 発電機セットの逆洗浄は四半期ごとに実行し、必要に応じて化学洗浄スケール洗浄を実行する必要があります。
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  • 高温・低温試験室におけるコンデンサの冷却モード 高温・低温試験室におけるコンデンサの冷却モード
    Jan 02, 2025
    高温・低温試験室におけるコンデンサの冷却モード高温・低温試験室 は、環境試験設備における一般的な温度試験設備であり、工業製品の高温および低温信頼性試験に適しています。高温および低温試験室における冷却の動作原理は、冷媒が高圧下で凝縮器から流出し、絞り機構(毛細管、熱膨張弁など)を通過し、圧力を下げてから蒸発器に入ることです。冷媒が蒸発器に入ると、2相混合物(液体とガス)になり、蒸発器内の低温条件下で蒸発して熱を吸収します。次に、凝縮器に入り、そこで熱が放出されて液体に凝縮されます。キセノンランプ老化試験室は、長いアークを持つキセノンランプを光源として使用し、科学研究、製品開発、品質管理に対応する環境シミュレーションと加速試験を提供できます。車両環境シミュレーション実験室は、エンジンのコールドスタート、車両の高温および低温、風、霜、雨、雪、車両排出ガス試験などの試験環境をシミュレートできます。異なる冷凍媒体に応じて、高温試験室コンデンサーの冷却モードは、空冷、水冷、液体窒素冷凍の3種類に分けられます。それらの媒体は、冷媒、水、液体窒素です。異なる媒体は異なる蒸発温度に対応し、同じ媒体でも異なる蒸発圧力下では、蒸発温度は同じではありません。高温試験室と低温試験室のコンデンサーの異なる冷却方法により、冷凍のコンポーネントが異なります。空冷方式は、コンプレッサー、さまざまな冷凍アクセサリ、コンデンサー、オイルセパレーターなどで構成されます。水冷方式は、チラー、冷却塔、冷凍ポンプ、補助装置で構成されます。液体窒素は、液体窒素タンク、圧力トランスミッター、圧力計、流量計、レベル計、超低温ソレノイドバルブなどで構成されます。高温および低温試験室のコンデンサーにどのような冷却方法が使用されるかに関係なく、高い信頼性と安全性が最も基本的な要件です。Lab Companion の計器試験装置は、顧客のニーズに応じてさまざまなコンデンサー冷却方法を提供できます。高温および低温試験室に加えて、Lab Companion の機器は、各種の温湿度試験室、恒温恒湿試験装置、老化室 (紫外線、キセノンランプ、オゾン老化室)、熱衝撃試験室、高温老化機などの装置も製造しており、すべての装置は国家規格および業界仕様に従って製造されています。
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  • 情報通信環境試験ソリューション 情報通信環境試験ソリューション
    Dec 09, 2024
    情報通信環境試験ソリューション統計分析によると、電子部品の故障は電子機械全体の故障の50%を占めており、信頼性検出技術は依然として多くの課題に直面しています。業界テスト対象使用テクノロジー解決ITコミュニケーション伝送スイッチング装置検査する高温配置テスト高温・低温(&湿度)試験室老化テスト高温・低温(&湿度)試験室評価する熱サイクル試験高温・低温(&湿度)試験室テルコルディアテスト高温・低温(&湿度)試験室熱サイクル試験 急速温度(湿度)変化試験室 携帯通信端末検査する動作テスト終了高温・低温(&湿度)試験室動作テスト終了 急速温度(湿度)変化試験室 評価する温度と湿度のテスト高温・低温(&湿度)試験室コンピューター検査する完成品のスクリーニング 急速温度(湿度)変化試験室 高温配置テスト高温・低温(&湿度)試験室老化テスト高温・低温(&湿度)試験室外部コンピュータストレージデバイス検査するコンポーネントのスクリーニング高温・低温(&湿度)試験室コンポーネントのスクリーニング 急速温度(湿度)変化試験室 評価する温度と湿度の範囲内での動作テストを確実に実施高温・低温(&湿度)試験室温度と湿度の範囲内での動作テストを確実に実施 急速温度(湿度)変化試験室 
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  • 温度、湿度、高度、振動の総合試験室 温度、湿度、高度、振動の総合試験室
    Nov 29, 2024
    温度、湿度、高度、振動の総合試験室の 総合商工会議所 温度、湿度、高度、振動などの気候環境と機械環境のシミュレーションテストと複合要因の総合的な環境テストは、航空、宇宙、兵器、船舶、原子力産業などの情報電子機器、各種電子機械、部品、コンポーネント、材料、プロセスなどに適しています。 温度、湿度、高さ、振動の総合チャンバーの主なパラメータ:スタジオ有効サイズ:D1200×W1200×H1000mm(他のサイズはカスタマイズ可能)温度範囲: -70℃ ~ +150℃湿度範囲:20%〜98%(大気圧条件、高度に包括的なテストが調整されています)加熱時間: ≥10℃/分 (-55℃ ~ +85℃、大気圧、150kgアルミニウム)冷却時間: ≥10℃/分 (-55℃ ~ +85℃、大気圧、150kgアルミニウム)気圧範囲:常圧~0.5kPa正弦波およびランダム加振力: 100kN最大加速度: 100g周波数範囲: 5 ~ 2500Hz作業面:φ640mm 包括的なテスト能力:► 温度+湿度総合テスト:温度範囲: +20℃ ~ +85℃、湿度範囲: 20% ~ 98%。► 温度+高さの総合テスト:温度範囲:-55℃~+150℃、高度範囲:地上~30000m。► 温度+湿度+高さの総合テスト:温度範囲: +20℃ ~ +85℃; 湿度範囲: 20% ~ 95%(最高湿度は高い相関性があります); 高度範囲: 地上 ~ 15200m。 一部のパラメータは、総合テストの特定の要件に応じてさらに拡張できます。►温度+湿度+高度+振動総合テスト:温度範囲: +20℃ ~ +85℃、湿度範囲: 20% ~ 95%(最高湿度は高い相関性があります)、高度範囲: 地上 ~ 15200m、振動パラメータは振動テーブルの仕様に対応します。一部のパラメータは、総合テストの特定の要件に応じてさらに拡張できます。 温度、湿度、高度、振動の総合試験室は、以下の基準を満たしています。►GB/T2423.1 試験A: 低温試験方法►GB/T2423.2 試験B: 高温試験方法►GB/T2423.3 恒温恒湿試験►GB/T2423.4 温度と湿度の交互試験►GB/T2423.21 低圧試験方法►GB/T2423.27 低温低圧湿度連続総合試験►GJB150.2A 低圧(高度)テスト►GJB150.3A高温試験►GJB150.4A低温テスト►GJB150.9A 温度湿度テスト►GJB150.24A 温度 - 湿度 - 振動 - 高さテスト►GJB150.2 軍事装備環境試験方法 低圧試験►GJB150.6 軍事装備の環境試験方法の温度高度試験;►GJB150.19 軍事装備の環境試験方法 温度 - 高度 - 湿度試験;►RTCA-DO-160 関連のテスト要件。
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  • 高温炉検査指標 高温炉検査指標
    Nov 14, 2024
    高温炉 検査指標高温炉のテスト基準は何ですか? どのような測定基準がテストされますか? 検出サイクルはどのくらいですか? どの項目がテストされますか?試験項目(参考):温度均一性試験、システム精度試験、温度、システム精度、温度均一性、高温炉の検証と校正、高温炉(チューブ炉)の検証と校正、箱型抵抗炉(高温炉、熱処理炉)の検証と校正、高温炉(箱型抵抗炉、乾燥炉、熱処理炉)の検証と校正、シリカ試験基準のリスト:1、NCS/ CJ M61; SAE AMS 2750; JJF1376 高温炉校正仕様 NCS/ CJ M61、高温炉校正方法 SAE AMS 2750E、箱型抵抗炉校正仕様 JJF13762、AMS 2750F 高温測定AMS 2750F3、GB 25576-2010 食品安全国家標準 食品添加物シリカ(高温炉法)4、JJF 1184熱電対検証炉温度現場試験技術仕様5、AMS 2750E高温測定AMS 2750E6、AMS 2750F高温測定法3.57、AMS 2750G高温測定AMS 2750G8、AMS 2750E高温測定法19. JJF 1376; AMS 2750; JJG 276 箱型抵抗炉の校正仕様 JJF 1376、高温測定方法 AMS 2750E、高温クリープ、耐久強度試験機検証規定 JJG 27610、JJF 1376箱型抵抗炉校正仕様11、GB / T 9452-2012熱処理炉の有効加熱ゾーンの決定方法112. SAE AMS 2750高温校正方法F
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  • キセノンランプ耐候性試験チャンバーは、屋外に 1 年間さらされた場合とどのくらいの期間に相当しますか? キセノンランプ耐候性試験チャンバーは、屋外に 1 年間さらされた場合とどのくらいの期間に相当しますか?
    Nov 07, 2024
    どのくらい長いですか? キセノンランプ耐候性試験室 屋外に1年間さらされた場合と同等ですか?キセノンランプ耐候性試験室は、屋外での 1 年間の暴露にどのくらい相当しますか? 耐久性をテストするにはどうすればよいでしょうか? これは技術的な問題ですが、多くのユーザーもこの問題を懸念しています。本日は、Lab Companion のエンジニアがこの問題について説明します。この問題は非常に単純に見えますが、実際には複雑な問題です。単純な数値を取得することはできません。この数値とキセノンランプ耐候性試験室の試験時間を掛けて、屋外暴露時間を取得しますが、キセノンランプ耐候性試験室の品質が十分ではありません。キセノンランプ耐候性試験室の品質がどれだけ優れていても、どれだけ先進的であっても、数字だけで問題を解決することは依然として不可能です。最も重要なことは、屋外暴露環境が複雑で変化しやすく、多くの要因の影響を受けることです。具体的なものは何ですか?1. 地理的緯度の影響2. 高度の影響3. 風速など、試験時の地理的環境の影響。4. 季節による影響は冬と夏では異なり、夏の暴露は冬の暴露の 7 倍のダメージを与えます。5. 試験サンプルの方向6. サンプルは絶縁されていますか、それとも絶縁されていませんか? 絶縁体の上に置かれたサンプルは、絶縁体の上に置かなかったサンプルよりも一般的にはるかに早く劣化します。7. キセノンランプ耐候性試験室の試験サイクル8.キセノンランプ耐候性試験室の動作温度、温度が高いほど老化が早くなります9. 特殊材料の試験10. 実験室でのスペクトル分布
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  • LED信号機テスト LED信号機テスト
    Nov 04, 2024
    LED信号機テスト発光ダイオードは、英語名Light Emitting Diodeの略称で、電子と正孔の結合によって光エネルギーを放出し、電気エネルギーを光エネルギーに効率的に変換し、照明、フラットパネルディスプレイ、医療機器など、現代社会で幅広い用途を持っています。技術の継続的な進歩に伴い、この電子部品は初期から低照度の赤色光のみを放射できましたが、他の単色光を開発し、可視光線、赤外線、紫外線に広く使用され、インジケータや表示板に広く使用され、その後、交通信号機にまで広がりました。21世紀の新しい光源として知られ、高効率、長寿命、材料が環境の影響を受けにくく、比較的安定しており、従来の光源の利点とは比較になりません。横断歩道の交通量は毎日多く、交通規則のガイドとして、信号機も一年中屋外に設置されているため、毎日懸命に働いています。そのため、動作する前に厳しい信頼性テストに合格する必要があります。テスト条件には、電圧、故障保護、電磁ノイズ、防塵防水、高温テスト、振動テスト、塩水噴霧テスト、絶縁電圧、絶縁抵抗テストなどがあります。 注意: 他のテストを実行する前に、LED 信号機は乾熱テストを受ける必要があります。ランプ表面試験:乾熱試験:60℃/24時間/印加電圧不合格判定:変形、緩み、脱落なし耐熱試験:70℃(16時間)→-15℃(16時間)→RT、RAMP:≦1℃/分、2サイクル、電源温湿度試験:40℃→RAMP:≦1℃/分→40℃/95%(24時間)、電源オン連続スイッチング動作:40℃/60〜80%、ON(1秒)←→OFF(1秒)、10000回電圧: 80 ~ 135V(AC)、170 ~ 270V(AC)不合格判定:光強度ドリフト≦20%(110V、220Vの光強度を基準とする)防水性と防塵性はIP54クラスの要件を満たしています絶縁抵抗試験:絶縁抵抗: 500V故障判定: 2MΩ以上絶縁耐電圧試験:1000V/60Hz/1分(絶縁抵抗試験後)光チャンバーテスト:高温試験:130℃/1時間故障判定:変形、ゆるみ、脱落、ひび割れ等がないこと。振動試験:XYZ3方向、各12分、36分、10~35~10Hz正弦波、各サイクル3分、総振動2mm故障判定:変形、緩み、脱落、ひび割れがなく、LEDライト面が正常に点灯し、操作できる風洞試験:風速16(51.5~56.4m /s)、前方(0度)および側方(45度)、各2時間吹く不合格判定:変形、ゆるみ、脱落、割れなし塩水噴霧試験:96時間故障判定:10,000mm^2の面積に8点未満の刺繍点、LED信号灯表面絶縁抵抗>2MΩ、電圧1000V/1分、異常なし 推奨モデル1:高温高湿試験室高温高湿試験室は、電気、電子、計器などの製品、部品、材料の高温と低温が交互に繰り返される湿熱環境での保管、輸送、使用適応性試験に適しています。各種の電子、電気、電機、プラスチックなどの原材料やデバイスの信頼性試験装置であり、耐寒性、耐熱性、耐湿性、耐乾燥性試験、品質管理工学を実施します。特に、ファイバー、LCD、水晶、インダクタンス、PCB、バッテリー、コンピューター、携帯電話などの製品の高温耐性、低温耐性、耐湿性サイクル試験に適しています。 推奨モデル2:総合チャンバーの振動振動総合チャンバーは、温度、湿度、振動の機能を1つにまとめたもので、航空宇宙製品、情報電子機器、材料、電気、電子製品、あらゆる種類の電子部品を過酷な環境で総合的にテストするのに適しています。振動総合チャンバーは主に航空宇宙、航空、石油、化学、電子、通信などの科学研究と生産ユニットに温度と湿度が変化する環境を提供し、同時にテストチャンバー内で指定されたテスト期間に応じて電気振動ストレスをテストし、ユーザーの機械全体(またはコンポーネント)、電気機器、機器、材料の温度と湿度、振動に対する総合的なストレススクリーニングテストを行います。テスト製品の適応性を評価し、テスト製品の挙動を評価するためです。単一の要因の影響と比較して、輸送と実際の使用における温度、湿度、振動の複雑な環境変化に対する電気電子製品の適応性をより正確に反映し、製品の欠陥を明らかにすることができます。これは、新製品の開発、プロトタイプテスト、製品認定テストの全プロセスに不可欠で重要なテスト手段です。 推奨モデル3:塩水噴霧試験室塩水噴霧試験室は、CNS、ASTM、JIS、ISOなどの規格に準拠した中性塩水噴霧試験(NSS)および腐食試験(AASS、CASS)を行うために、あらゆる種類の通信電子製品、電子機器、ハードウェア部品に適しています。塩水噴霧試験は、コーティング、電気メッキ、陽極酸化処理、防錆油などの防食処理後のさまざまな材料の表面に対する製品の耐腐食性を試験するためのものです。推奨モデル4:防水防塵試験室防水防塵試験室は、計量自動化端末や配電網自動化端末などの屋外端末に適しており、雨やほこりの試験を実施して、試験対象製品が厳しい環境変化の影響に耐え、製品が安全かつ確実に動作することを保証します。また、外部照明や信号装置、自動車のランプシェル保護にも適しています。電子製品とその部品が輸送中や使用中に受ける可能性のある水、水しぶき、ほこりの試験など、さまざまな環境をリアルにシミュレートできます。さまざまな製品の防水防塵性能を検出するため。
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  • スマートウォッチの信頼性テスト条件 スマートウォッチの信頼性テスト条件
    Nov 01, 2024
    スマートウォッチの信頼性テスト条件現代社会では、小学生や幼稚園児でさえスマートウォッチを持っています。では、スマートウォッチとは何でしょうか? スマートフォンの急速な普及によりスポーツウォッチが普及した後期、スマートウォッチはPDAやスマートフォンと同じPIM効果を提供する意図はなく、スマートフォンのアシスタントアクセサリにアピールしています。Bluetoothヘッドフォンがスマートフォンの音声補助装置であるのと同様に、スマートウォッチは情報とデータの補助装置となり、より便利で迅速な情報表示と操作を提供します。 スマートアクセサリやAndroidリモートなどの別名もあります。携帯電話のアシスタントとして位置づけられており、「懐中時計が絶滅した理由は、単に時間を見るためだけでなく、ポケットから取り出すのにも2〜3秒ほどかかるが、時計は1秒未満で済むため、懐中時計よりも便利だからだ」という考えです。そして観察してみると、今では誰もがスマートフォンを取り出してスライドさせて開くだけで、メッセージを確認するだけで、約数十回、これらの確認や返信の入力さえも必要ありません。数十回の確認が時計上で変更された場合、必ずしも機械のスライドロックを解除する必要はありません。これは懐中時計と同じくらい時間がかかるからです。そのため、携帯電話のリモコンのアシスタントになった後、外出時に携帯電話を持って行かなければ、時計は時間を表示する以外に役に立たず、携帯電話のないBluetoothヘッドセットはほぼスクラップメタルです。スマートブレスレットと組み合わせるとさらに売れます!!スマートウォッチは「PDAよりも小さい独立したコンピュータ」から「スマートフォンのリモートコントロール補助装置」へと、より成功したポジショニングをしてきたように思われますが、今回のCES 2014では、スマートブレスレットと組み合わせたポジショニングがより優れていることがわかりました。スマートリストバンドは、加速度センサー(およびジャイロスコープ、磁気抵抗センサーなど)を使用して、ユーザーの走行速度、歩数などを感知し、深い睡眠を検出して、運動と睡眠に関する提案を提供することもできます。リストバンドをディスプレイに追加すると、携帯電話の時刻と情報を表示できます。携帯電話の情報に訴える場合、緊急の情報ニーズがない場合は、実際にはBluetoothヘッドセットと同様にオプション(宅配便、ドライバーのニーズ)と見なされるだけです。誰もが情報アクセスの速度をスライドで受け入れることができる場合、市場は限定されます。しかし、運動や睡眠記録の監視への訴求に加え、情報のヒントを強調し、携帯電話での時計のリモートコントロールを強調するのではなく、エンドユーザーにとっては多少の犠牲、あるいはほとんど犠牲にならずに、携帯電話の効能価値を完全に繰り返すのではなく、即時の新しい応用価値(スポーツ、睡眠補助)をもたらし、スマートウォッチの市場成功をさらに高めます。効能、応用、位置付けを絶えず調整し、スマートリングと統合することで、これまでよりも高い市場を獲得できると考えています。 人や機能のためのスマートウォッチ:1. 大人向けスマートウォッチ機能: Bluetooth同期携帯電話通話、テキストメッセージの送受信、睡眠の監視、心拍数の監視、座りすぎリマインダー、ランニング、リモート写真撮影、音楽再生、ビデオ、コンパスなどの機能、ファッショントレンドの人々のために設計されています。2、高齢者向けスマートウォッチ機能:超高精度の GPS 測位、家族との通話、緊急通話、心拍数モニタリング、座りすぎの通知、薬の服用通知、その他の高齢者向けのカスタマイズされた機能。高齢者の旅行に傘を提供します。この時計を持って、高齢者を失くさないでください。3、子供用スマートウォッチの位置機能:多重位置決め、双方向通話、SOS SOS、遠隔監視、インテリジェントな紛失防止、履歴トラック、電子フェンス、歩数計、愛の報酬などの機能により、お子様の安全を確保し、お子様に健康で安全な成長環境を提供します。 スマートウォッチの仕様:IEC 60086-3: 時計用電池ISO 105-A02: 色堅牢度試験 -A02 - 変色のグレースケール評価ISO 105-A03-1993: 染色堅牢度試験 -A03- 染色のグレースケール評価ISO 764: 耐磁性時計ISO 1413: 耐衝撃時計ISO 2281: 防水時計ISO 11641-1993: 革 - 色堅牢度試験 - 汗に対する色堅牢度ISO 14368-3: テーブルガラスの耐衝撃性試験MIL 810G: 環境工学上の考慮事項と実験室試験QB/T 1897-1993: 防水時計検査QB/T 1898-1993: 耐衝撃時計の検査QB/T 1908-1993: 主要信頼性テストQB/T 1919-2012: 針と液晶を備えたデジタルクォーツ時計の型式検査QB/T 2047-2007: 金属製時計バンドの検査GB/T 2537-2001: 革の色堅牢度試験往復研磨色堅牢度QB/T 2540-2002: レザーストラップ検査GB/T 6048-1985: デジタルクォーツ電子時計GB/T 18761-2007: 電子デジタル表示インジケータGB/T 18828-2002: ダイビングウォッチの規格GB/T 22778-2008: LCDデジタルクォーツストップウォッチ型検査GB/T 22780-2008: LCDクォーツ時計の型式検査GB/T 26716-2011 idt ISO 764-2002: 耐磁性時計の検査HJ216-2005: エコドライブウォッチ スマートウォッチパイロットプロジェクト:信頼性、時間帯測定精度、瞬間日差、動作温度、電圧範囲、平均温度係数、電圧係数、耐湿性、耐衝撃性、防水性能、電池交換サイクル、キー疲労耐性、耐光性および耐候性、帯電防止性能 周囲温度範囲:-25℃〜55℃ 動作温度:-5〜50℃/80%RH(要件:各機能および液晶ディスプレイは完全かつ正常である必要があります) 高および低動作温度テスト:50±1℃/24h→RT/1h→-5±1℃ 温度変化テスト条件:(IEC60068-2)高温:30、40、55℃ 低温:5、-5、-10、-25℃ Nb滞留時間(上昇および冷却時間を含む):10分、30分、1時間 Nb温度変動:3±0.6℃/分、5±1℃/分。 湿熱試験:1.40±1℃/85~95%RH/24時間2.8±1℃/85~95%RH/4時間 倉庫保管湿度テスト:40℃/20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%49℃/10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%各ステップ37時間 航空輸送温度変化シミュレーション試験:仕様: IEC60721.2 電気および電子製品の適用環境条件 - 輸送国家規格カテゴリー: 2K5 (世界中の換気および加圧されていない内部輸送の気候範囲に適用可能)温度範囲: -65℃←→85℃ランプ: 5℃/分 航空輸送温度変化シミュレーション試験:仕様: IEC60721.6 電気および電子製品の適用環境条件 - 海洋カテゴリー: 6K5 (寒冷気候の影響を受け、耐候性があるが加熱されていない部分に設置)温度範囲: -25℃←→40℃ランプ: 3℃/分 水温変化耐性試験:40℃の水に5分 → 20℃の水に5分、40℃の水に5分、水深10cm 耐水圧試験:時計を水の入った容器に浸し、1分以内に2*10^5Pa[または水深20m]の過圧を加え、10分間維持すると、1分後に圧力が周囲の環境の標準圧力になります。 耐塩水性テスト:試験対象の時計を18℃~25℃の30g/L塩化ナトリウム溶液に24時間浸します。試験後にケースと付属品に大きな変化がないことを確認します。可動部品、特に回転するフロントリングが正常に機能していることを確認します。 水中信頼性テスト:試験対象の時計を30cm±2cmの水に浸し、18℃~25℃の温度に50時間置いても、すべての機械装置は正常に作動するはずです。試験中、時間プリセット装置やライトスイッチなど、水中で操作する必要がある機械装置は正常に作動できるはずです。結露試験を行い、時計のガラスの内面に結露の霧が現れてはならず、機械機能が損傷してはいけません。 耐熱衝撃試験:時計を30cm±2cmの深さの異なる温度の水に順次浸します。40℃±2℃の水に10分間浸します。5℃±2℃の水に10分間浸します。40℃±2℃の水に10分間浸します(時計を水から取り出して別の温度の水に1分以上浸さないでください)。結露テストを行い、時計のガラスの内面に結露の曇りが生じず、正常に動作するはずです。 耐薬品性試験:引用規格: ASTM F 1598-95、ASTM D 1308-87、ASTM D 1308-02成分: 家庭用化学物質(汚れ、ほこり、油、煙、ピーナッツバター、化粧品、ハンドクリームなど)時間: 24時間 人工汗試験に対する耐腐食性:QB/T 1901.2-2006「シェルおよびその付属品の金合金カバー - パート2 純度、厚さ、耐腐食性および接着性の試験」試験原理:人工汗を高温(40±2)℃の状態で対象物に接触させ、長時間(24時間以上)放置した後、その表面の状態を観察して汗腐食に対する耐性を判定します。 振動テスト:加速度(19.6m/s^2)、周波数30Hz~120Hz、スキャン周期1分要件:機能とLCDディスプレイは完全かつ正常で、部品が緩んで落ちたりしてはいけません。 落下テスト:1m ドロップ リトグラフ ハードウッド、時計側 1 回、表面ガラス 1 回要件: 各衝撃後に正常に機能し、外観上の損傷がない [ガラスの破損、ケースの足の曲がり、ケース部品の曲がり、ケースの破損、ボタンの損傷] 衝撃テスト:インパクトコーンパッド材質:ポリテトラフルオロエチレン、衝撃速度4.43m/s、衝撃高さ1m 腕振りテスト:2~10Hz
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  • PCBはHASTを通じてイオン移動とCAFの加速試験を実施します PCBはHASTを通じてイオン移動とCAFの加速試験を実施します
    Oct 18, 2024
    PCBはHASTを通じてイオン移動とCAFの加速試験を実施しますPCB の長期使用品質と信頼性を確保するために、SIR (表面絶縁抵抗) 表面絶縁抵抗テストを実行する必要があり、そのテスト方法によって PCB に MIG (イオン マイグレーション) および CAF (ガラス繊維陽極リーク) 現象が発生するかどうかを調べます。イオン マイグレーションは、一定のバイアス (例: 50 V) で加湿状態 (例: 85℃/85%RH) で実行され、イオン化された金属が反対側の電極間 (陰極から陽極への成長) を移動します。相対電極は元の金属に還元され、樹枝状金属現象が沈殿し、多くの場合、短絡が発生します。イオン マイグレーションは非常に脆弱で、電源投入時に発生する電流によってイオン マイグレーション自体が溶解して消滅します。MIG および CAF でよく使用される規格: IPC-TM-650-2.6.14、IPC-SF-G18、IPC-9691A、IPC-650-2.6.25。 MIL-F-14256D、ISO 9455-17、JIS Z 3284、JIS Z 3197...しかし、その試験時間は1000時間、2000時間であることが多く、周期的な製品の緊急時には遅くなります。HASTは試験方法であり、機器の名前でもあります。HASTは、環境ストレス(温度、湿度、圧力)を改善し、不飽和湿度環境(湿度:85%RH)で試験プロセスを高速化して試験時間を短縮し、PCBの加圧、絶縁抵抗、および関連材料の吸湿効果を評価するために使用されます。高温多湿(85℃/ 85%RH /1000h→110℃/ 85%RH /264h)での試験時間を短縮します。PCB HAST試験の主な参考規格は、JESD22-A110-B、JCA-ET-01、JCA-ET-08です。HAST加速寿命モード:★温度を上げる(110℃、120℃、130℃)★高湿度を維持(85%RH)加圧時(110℃/0.12MPa、120℃/85%/85% 0.17MPa、130℃/0.23MPa)★ エクストラバイアス(DC)PCBのHASTテスト条件:1. Jca-et-08:110、120、130℃/85%RH/5〜100V2.高TGエポキシ多層基板:120℃/85%RH/100V、800時間3. 低インダクタンス多層基板:110℃/85%RH/50V/300h4. 多層PCB配線、材質:120℃/85%RH/100V/800h5. 低膨張係数、低表面粗さのハロゲンフリー絶縁材:130℃/85%RH/12V/240h6.光学活性カバーフィルム:130℃/85%RH/6V/100h7. COFフィルム用熱硬化プレート:120℃/85%RH/100V/100hラボコンパニオン HAST 高加速ストレステストシステム (JESD22-A118/JESD22-A110)マクロテクノロジーが独自に開発したHASTは、独自の知的財産権を完全に所有しており、その性能指標は海外ブランドを完全にベンチマークできます。単層と二層のモデルと2シリーズのUHAST BHASTを提供できます。この機器の輸入への長期依存、輸入機器の納期が長い(最大6か月)、価格が高いという問題を解決します。高加速ストレステスト(HAST)は、高温、高湿度、高圧、時間を組み合わせて、電気バイアスの有無にかかわらずコンポーネントの信頼性を測定します。HASTテストは、制御された方法で従来のテストのストレスを加速します。本質的には腐食破損テストです。腐食タイプの故障が加速され、パッケージのシール、材料、ジョイントなどの欠陥が比較的短時間で検出されます。  
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  • 温度と湿度の用語 温度と湿度の用語
    Oct 14, 2024
    温度と湿度の用語露点温度Tdは、空気中の水蒸気含有量が変わらず、一定の圧力を維持し、空気が冷却されて飽和温度に達する温度です。露点温度と呼ばれ、単位は°Cまたは℉で表されます。これは実際には水蒸気と水が平衡状態にある温度です。実際の温度(t)と露点温度(Td)の差は、空気がどの程度飽和しているかを示します。t>Tdの場合、空気は飽和していないことを意味し、t=Tdの場合は飽和しており、tの場合は飽和しています。
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  • 温度サイクルストレススクリーニング(1) 温度サイクルストレススクリーニング(1)
    Oct 14, 2024
    温度サイクルストレススクリーニング(1)環境ストレススクリーニング(ESS)ストレス スクリーニングとは、設計強度限界下で加速技術と環境ストレスを使用することです。たとえば、バーンイン、温度サイクル、ランダム振動、パワー サイクルなどです。ストレスを加速することで、製品の潜在的な欠陥 [潜在的な部品材料欠陥、設計欠陥、プロセス欠陥、工程欠陥] が明らかになり、電子的または機械的な残留ストレスが排除されるだけでなく、多層回路基板間の浮遊コンデンサも排除され、バスタブ曲線における製品の早期死期が事前に除去および修復されるため、製品は適度なスクリーニングを経て、バスタブ曲線の正常期間と衰退期間を節約し、製品が使用過程で環境ストレスのテストによって故障につながり、不要な損失が発生することを回避できます。ESS ストレス スクリーニングを使用するとコストと時間が増加しますが、製品の出荷歩留まりを向上させ、修復回数を減らすという大きな効果があり、総コストが削減されます。また、顧客からの信頼も向上します。一般的に、電子部品のストレス スクリーニング方法は、事前燃焼、温度サイクル、高温、低温です。PCB プリント基板のストレス スクリーニング方法は温度サイクルです。電子部品のストレス スクリーニングのコストは、事前燃焼、温度サイクル、ランダム振動です。ストレス スクリーニング自体はプロセス段階であるだけでなく、テストではなく、スクリーニングは 100% 製品手順です。ストレススクリーニング適用製品段階: 研究開発段階、量産段階、出荷前(スクリーニングテストは、部品、デバイス、コネクタなどの製品または機械システム全体で実行でき、異なる要件に応じて異なるスクリーニングストレスを持つことができます)ストレススクリーニングの比較:a. 恒温高温前焼成(バーンイン)ストレススクリーニングは、現在の電子 IT 業界で電子部品の欠陥を早期発見するためによく使用される方法ですが、この方法は部品(PCB、IC、抵抗器、コンデンサ)のスクリーニングには適していません。統計によると、米国では温度サイクルを使用して部品をスクリーニングする企業の数は、恒温高温前焼成を使用して部品をスクリーニングする企業の数の 5 倍です。B. GJB/DZ34 温度サイクルとランダム振動スクリーン選択の欠陥の割合を示しており、温度はさまざまな製品の欠陥の約80%を占め、振動は約20%を占めています。c. 米国は42社の企業を対象に調査を実施し、ランダム振動ストレスでは欠陥の15~25%を除去でき、温度サイクルでは75~85%を除去でき、両者を組み合わせると90%に達することが分かりました。d. 温度サイクルによって検出された製品欠陥の種類の割合:不十分な設計マージン:5%、製造および仕上がりエラー:33%、不良部品:62%温度周期ストレススクリーニングの故障誘発の説明:温度サイクルによって引き起こされる製品故障の原因は、温度が上限と下限の極値内でサイクルされると、製品が交互に膨張と収縮を起こし、製品に熱応力と歪みが生じることです。製品内に過渡的な熱ラダー(温度の不均一性)がある場合、または製品内の隣接する材料の熱膨張係数が互いに一致しない場合は、これらの熱応力と歪みはさらに激しくなります。この応力と歪みは欠陥部分で最大になり、このサイクルにより欠陥が非常に大きくなり、最終的に構造的故障を引き起こし、電気的故障が発生する可能性があります。たとえば、ひびの入った電気メッキスルーホールは、最終的にその周囲全体にひびが入り、開回路を引き起こします。熱サイクルにより、プリント基板上のスルーホールのはんだ付けとメッキが可能になります...温度サイクルストレススクリーニングは、プリント基板構造の電子製品に特に適しています。温度サイクルや製品への影響によって引き起こされる障害モードは次のとおりです。a. コーティング、材料、またはワイヤのさまざまな微細な亀裂の拡大b. 接着不良の接合部を緩めるc. 不適切に接続またはリベット留めされたジョイントを緩めるd. 機械的張力が不十分な状態で圧入継手を緩めるe. 品質の悪いはんだ接合部の接触抵抗が増大したり、回路が断線したりするf. 粒子状物質、化学物質による汚染g. シール不良h. 保護コーティングの接着などのパッケージングの問題i. 変圧器とコイルの短絡または断線j. ポテンショメータに欠陥があるk. 溶接と溶接点の接続不良l. 冷間圧接接触m. 多層基板の不適切な取り扱いによる断線、短絡n. パワートランジスタの短絡o. コンデンサ、トランジスタ不良p. 2列集積回路の故障q. 損傷や不適切な組み立てによりショートしそうなボックスやケーブルr. 不適切な取り扱いによる材料の破損、損傷、傷など。s. 許容範囲外の部品および材料合成ゴム緩衝コーティングの不足により抵抗器が破裂したu. トランジスタの毛は金属ストリップの接地に関与しているv. マイカ絶縁ガスケットの破裂によりトランジスタが短絡w. 調整コイルの金属板の不適切な固定は出力の不規則化につながるx. バイポーラ真空管は低温では内部が開いているy. コイル間接短絡z. 非接地端子a1. コンポーネントパラメータのドリフトa2. コンポーネントが正しくインストールされていないa3. 誤用されたコンポーネントa4. シール不良温度サイクルストレススクリーニングのためのストレスパラメータの導入:温度サイクルストレススクリーニングのストレスパラメータには、主に、高温および低温の極値範囲、滞留時間、温度変動、サイクル数などが含まれます。高温および低温の極値範囲: 高温および低温の極値範囲が広いほど、必要なサイクル数が少なくなり、コストが低くなりますが、製品が耐えられる限界を超えることはできず、新しい故障原理は発生しません。温度変化の上限と下限の差は 88°C 以上で、典型的な変化範囲は -54°C ~ 55°C です。滞留時間: また、滞留時間は短すぎてもいけません。短すぎると、テスト対象の製品に熱膨張と収縮による応力変化を生じさせるのが遅すぎます。滞留時間については、製品によって滞留時間が異なりますので、関連する仕様要件を参照してください。サイクル数:温度サイクルストレススクリーニングのサイクル数についても、製品の特性、複雑さ、温度の上限と下限、スクリーニング率を考慮して決定され、スクリーニング数を超えてはなりません。そうしないと、製品に不要な損害を与え、スクリーニング率を向上させることができません。温度サイクル数は、1〜10サイクル[通常スクリーニング、一次スクリーニング]から20〜60サイクル[精密スクリーニング、二次スクリーニング]までの範囲であり、最も可能性の高い製造上の欠陥を除去するには、約6〜10サイクルで効果的に除去できます。温度サイクルの有効性に加えて、主に製品表面の温度変化に依存し、テストボックス内の温度変化に依存しません。温度サイクルに影響を与える主なパラメータは 7 つあります。(1)温度範囲(2)サイクル数(3)温度変化率(4)滞在時間(5)気流速度(6)応力の均一性(7)機能テストの有無(製品の動作状態)
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  • 温度サイクル試験 温度サイクル試験
    Oct 12, 2024
    温度サイクル試験温度サイクルは、実際の使用環境でさまざまな電子部品が遭遇する温度条件をシミュレートするために、周囲温度差の範囲を変更し、温度の急激な上昇と下降を変化させることで、より厳しいテスト環境を提供できますが、材料テストに追加の影響が生じる可能性があることに注意する必要があります。温度サイクルテストの関連する国際標準テスト条件については、温度変化を設定する方法が 2 つあります。Macroshow Technology は、ユーザーが仕様に従って設定するのに便利な直感的な設定インターフェイスを提供します。合計ランプ時間を選択するか、1 分あたりの温度変化率で上昇速度と冷却速度を設定できます。温度サイクル試験の国際仕様一覧:総ランプ時間(分): JESD22-A104、MIL-STD-8831、CR2003151分あたりの温度変化(℃/分):IEC 60749、IPC-9701、Bellcore-GR-468、MIL-2164例: 鉛フリーはんだ接合部の信頼性試験指示:鉛フリーはんだ接合部の信頼性試験では、試験条件によって温度変化の設定モードも異なります。例えば、(JEDEC JESD22-A104)では温度変化時間を合計時間[10分]で指定しますが、他の条件では温度変化率を[10℃/分]で指定します(100℃から0℃など)。1分間に10度の温度変化であれば、つまり合計温度変化時間は10分です。100℃ [10分]←→0℃[10分]、ランプ:10℃/分、6500サイクル-40℃[5分]←→125℃[5分]、ランプ:10分、200サイクルチェック1回、2000サイクル引張試験[JEDEC JESD22-A104]-40℃(15分)←→125℃(15分)、ランプ:15分、2000サイクル例: LE​​D自動車照明(高出力LED)LED自動車用ライトの温度サイクル試験条件は、-40℃~100℃で30分、総温度変化時間は5分、温度変化率に換算すると毎分28度(28℃/分)となります。試験条件:-40℃(30分)←→100℃(30分)、ランプ:5分 
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