環境に優しい試験室

• 通信用発光ダイオードの信頼性テストとは何ですか?

  Jan 13, 2025

  通信用発光ダイオードの信頼性テストとは何ですか?通信用発光管2本の故障判定：固定電流を流して光出力を比較し、誤差が 10% を超える場合は故障と判定します。機械的安定性テスト:衝撃試験：5回/軸、1500G、0.5ms 振動試験：20G、20〜2000Hz、4分/サイクル、4サイクル/軸 液体熱衝撃試験：100℃（15秒）←→0℃（5秒）/5サイクル耐久性テスト:加速劣化試験：85℃/電力（最大定格電力）/5000時間、10000時間高温保管試験：最大定格保管温度/2000時間低温保管試験：最大定格保管温度/2000時間温度サイクル試験：-40℃（30分）←85℃（30分）、RAMP：10/分、500サイクル耐湿性試験：40℃/95%/56日、85℃/85%/2000時間、密封時間通信ダイオード素子スクリーニングテスト：温度スクリーニング試験：85℃/電力（最大定格電力）/96時間スクリーニング不良判定：光出力電力を固定電流と比較し、誤差が10％より大きい場合は不良と判定通信ダイオードモジュールスクリーニングテスト：ステップ1：温度サイクルスクリーニング：-40℃（30分）←→85℃（30分）、RAMP：10/分、20サイクル、電源なし2番目：温度スクリーニングテスト：85℃/電力（最大定格電力）/96時間

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• 温湿度試験室の表示・加熱システム

  Jan 07, 2025

  温湿度試験室の表示・加熱システムの表示および制御インターフェース 温度湿度試験室 直感的で明確で、軽いタッチの選択メニューはシンプルで使いやすく、パフォーマンスは安定していて信頼できます。柔軟なプログラム制御により、ユーザーに安定したパフォーマンス、柔軟な制御、コスト効率の高い製品をもたらします。入力チャネルと出力チャネルは任意に拡張できます。航空、自動車、家電、科学研究などの分野向けのテスト機器であり、高温、低温、温湿度の交互度または一定テストでの温度環境変化後の電気、電子などの製品や材料のパラメータとパフォーマンスをテストおよび決定するために使用されます。製品の特徴:1、CNC切断、レーザーオープニング、量産テストチャンバーを使用します。2、スプレーは屋外用粉末のみを使用し、粉末は一度使用すると再利用されず、変化がなく強力な接着力があります。3、視覚的な窓枠は、工業的な感覚が強い、一度開ける金型で作られています。4、ワンタイムモールドで作られたインストルメントパネルは美しく、寛大です。インストルメントパネルのラベルにはPVCステッカーを使用し、背面の接着剤には3M接着剤を使用しています。5、キャスターは啓東白雲電子のオリジナル工場で作られた高さ調節可能なキャスターを採用しており、非市場の偽造品であり、高品質で美しく、寛大です。6、冷凍システムの標準図面はすべて溶接されており、各機器の配管が一貫しており、冷凍性能が適切な状態に達していることを確認します。7、電気システムのすべての配線は標準図に従っており、配線完了後に13回の検査工程を経て、配線が正確でトラブルがないことを確認します。8、給水システムは3つのカップを使用して水位を制御し、加湿器の給水が湿球水位から分離されるようにし、加湿器の水によって引き起こされる温度変動を回避します。画面：1、オリジナルブランドの温度湿度計、5.7インチの高解像度トゥルーカラーLCDタッチスクリーン。2、リアルタイム監視（コントローラのリアルタイムデータ、信号ポイントの状態、実際の出力の状態を監視）。3、コントローラは、600日以内の履歴データを保存できます（24時間動作で1分以上の記録間隔で温度と湿度のデータを同時に記録した場合）。また、アップロードされた履歴データ曲線を再生できます。4、エクスポートされたファイルは、コンピューターで表示したり、ランダムギフトソフトウェアを使用して EXCEL 形式に変換したりできます。5、RS232/485ポートを搭載した機器。6、自動計算機能により、温度と湿度の変化条件を即座に修正できるため、温度と湿度の制御がより安全で安定します。暖房システム:1、遠赤外線ニッケル合金高速加熱（2KW×2）電気ヒーターの使用。2、高温独立システム、低温テスト、高温テスト、温湿度変化に影響しません。3、温度と湿度の制御出力はマイクロコンピュータによって計算され、高精度と高効率を実現します。

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• 真空高温試験室

  Dec 11, 2024

  真空高温試験室真空高温試験室の特徴：脱泡および酸化防止のための特殊な高温設備。GB/T2423.1（IEC60068-2-1）、GB/T2423.2（IEC60068-2-2）、ISO16750、JESD22、GB/T 14710、GB/T 13543 などの規格に準拠。まず、真空高温試験室の製品概要：新しくシンプルなデザイン。圧力と温度の自動制御プログラムは操作が簡単で機能が高度です。 試験材料の状態を容易に観察できる観察窓（オプション）チャンバー内の二重構造：真空容器の内部は内スロットの二重構造になっており、内チャンバーの外側にヒーターが設置されているため、熱損失が低減され、温度均一性が向上し、温度上昇時間が大幅に短縮され、設備の稼働率が向上します。幅広い用途：脱泡、脱ガス、硬化、乾燥などに使用できます。LED製造工程における脱泡処理時の樹脂液混合やシリコーン液、各種樹脂成形時の脱ガス処理、IC注入時のエポキシ樹脂硬化処理、電子部品の水洗浄後の乾燥、真空高温試験室はこれらのすべての工程で使用できます。第二に、真空高温試験室の異なるモデル： モデル番号 温度範囲内部容積タイプ内部サイズ(幅×高さ×奥行mm)外寸(幅×高さ×奥行mm)VAC-101P+40～+200℃91L気圧範囲：933～1[*102Pa](abs)450×450×450902×1,392×780VAC-201P+40～+200℃216L気圧範囲：933～1[*102Pa](abs)600×600×6001,052×1,532×930VAC-301P+40～+200℃512L気圧範囲：933～1[*102Pa](abs)800×800×8001,252×1,772×1,130モデル番号温度/圧力範囲内部サイズ(幅×高さ×奥行mm)LCV-234(RT+20)°C~+200°C / 0-101kPa(ゲージ)450×450×450LCV-244550×550×550

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• 機械・電気製品向け環境試験ソリューション

  Dec 06, 2024

  機械・電気製品向け環境試験ソリューション統計分析によると、電子部品の故障は電子機械全体の故障の50%を占めており、信頼性検出技術は依然として多くの課題に直面しています。業界テスト対象使用テクノロジー解決電気機械システムコンポーネント評価する 熱サイクル試験高温・低温（＆湿度）試験室熱サイクル試験 急速温度（湿度）変化試験室 電気ガス評価する 熱サイクル試験高温・低温（＆湿度）試験室熱サイクル試験 急速温度（湿度）変化試験室 鉄道交通評価する熱サイクル試験高温・低温（＆湿度）試験室熱サイクル試験 急速温度（湿度）変化試験室 /高温・低温（＆湿度）試験室/小型超低温試験室

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• 車両輸送自動車部品の環境試験ソリューション

  Dec 03, 2024

  車両輸送自動車部品の環境試験ソリューション車両輸送用自動車部品製品の信頼性は非常に重要であり、車両の安全性、信頼性、操作快適性を直接決定します。業界テスト対象使用テクノロジー解決自動車産業自動車用電子機器検査する高温・低温試験高温・低温（＆湿度）試験室評価する高温・低温試験高温試験室凝縮力テスト急速温度（湿度）変化試験室 特性テスト急速温度（湿度）変化試験室 車のバッテリー検査する充電・放電テスト高温・低温（＆湿度）試験室評価する特性テスト急速温度（湿度）変化試験室 歩行安全装置検査する基板の老化高温・低温（＆湿度）試験室評価する特性テスト高温試験室乗員保護（エアバッグ）検査する完成品のスクリーニング急速温度（湿度）変化試験室自動車運転誘導システム検査する完成品のスクリーニング高温・低温（＆湿度）試験室急速温度（湿度）変化試験室 ETC車載器検査する高温・低温試験高温・低温（＆湿度）試験室高温試験室評価する特性テスト急速温度（湿度）変化試験室 その他の自動車関連団体（パワー半導体） 高温の場所に置く高温試験室

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• 高温・低温低圧試験装置|急速減圧装置

  Nov 25, 2024

  高温・低温低圧試験装置および急速減圧装置高温・低温低圧試験室：（１）主なテクニカル指標1.スタジオサイズ：1000D×1000W×1000H mm、内部サイズは約1000L2. 外形寸法：約3400D×1400W×2010H mm（コントローラー、テストホール、その他の目立つ部品は除く）。3. 温度範囲：-70℃～+150℃4.温度変動: ≤±0.5℃、常圧、無負荷5.温度偏差：±2℃、常圧、無負荷6. 温度均一性: ≤2℃、大気圧、無負荷7.加熱速度：+20℃→+150℃≤60分8. 冷却速度: +20℃→-65℃≤60分9. 湿度範囲：湿度20%〜98%RH（温度+20℃〜+85℃の範囲）10.湿度偏差：常圧、無負荷状態で、≤+ 2-3%RH（> 75%RH）、≤±5%RH（≤75%RH）。11. 圧力範囲：常圧～0.5kPa12. 減圧速度：常圧～1.0kPa≤30分13.圧力回復率：≤10.0kPa/分14. 圧力偏差：常圧～40kPa：≤±2kPa、40KPa～4kPa：≤±5%kPa、4kPa未満：≤±0.1kPa15. 風速：周波数変換調整16. 電力: 約50kW17. 騒音：≤75dB（A）、チャンバーの前面から1メートル離れた場所、地面から1.2メートルの高さ。18. 重量: 1900Kg（２）急速減圧装置（オプション）急速減圧の要件を満たすために、独立した急速減圧チャンバーが加工されています。急速減圧チャンバーは、シェルアセンブリ、圧力アセンブリ、ドアアセンブリ、インターフェイス、および移動フレームで構成されています。急速減圧を行う前に、ユーザーは外部パイプラインを接続する必要があります。1.スタジオサイズ：奥行き400mm×幅500mm×長さ600mm。内部の壁材はSUS304/2B3.0材で加工し、耐圧補強には5mm角パイプを使用。2. 外寸：奥行き530mm×幅700mm×長さ880mm、外壁材質は1.2mm冷間圧延鋼板、表面は白色塗装（チャンバーの色と一致）。3. 圧力センサー ポートはコンテナの上部に確保されています。制御センサー ポートはコンテナの背面に配置されており、クイック バック デバイスの配線が容易になっています。4. 高速バック装置の移動の利便性のため、フレームの下に4つの昇降キャスターを設置します。移動フレームは普通鋼で溶接され、表面にスプレー塗装されています。5.急速減圧プロセス：急速減圧チャンバーの排気速度を向上させるために、まず試験チャンバーを約1kPaまで排気し、試験チャンバー装置と急速減圧装置を接続する電動バルブを開いて急速減圧機能を実現し、18.8kPaに達したらバルブを閉じます。補助ポンプ（吸入バルブ）により、急速減圧チャンバー内の一定圧力を実現できます。（３）製品実施基準1. GB/T2423.1-2008 試験A：低温試験2. GB/T2423.2-2008 試験B: 低温試験3. GB/T 2423.3-2006 テストキャブ：恒温恒湿テスト4. GB/T 2423.4-2008 テストDb: 温度と湿度の交互試験5. GB/T2423.21-2008 試験M：低圧試験方法6. GB/T2423.25-2008 試験 Z/AM: 低温/低圧総合試験7. GB/T2423.26-2008 試験Z/BM:高温/低圧総合試験8. GJB150.1-2009の一般要件9. GJB150.2A-2009 低圧（高度）テスト10. GJB150.3A-2009高温試験11. GJB150.4A-2009低温試験12. GJB150.6-86 温度高度試験13. GJB150.19-86 温度 - 湿度 - 高さテスト14. DO16F急速減圧試験15. GB/T 10586-2006 温度湿度試験室の技術的条件16. GB/T 10590-2006 高温低圧試験室の技術条件17. GB/T 10592-2008 高温および低温試験室技術標準18. GB/T 5170.1-2008 電気電子産業環境試験設備の検査方法通則19. GB/T 5170.2-2008 電気電子製品環境試験設備試験方法温度湿度試験設備20. GB/T 5170.5-2008 電気電子製品環境試験設備試験方法温度湿度試験設備GB/T 5170.10-2008 電気電子製品環境試験設備試験方法高温低圧試験設備

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• 振動機能検証(VVF)

  Nov 18, 2024

  振動機能検証(VVF)輸送中に発生する振動では、貨物箱は複雑な動圧の影響を受けやすく、発生する共振応答は激しく、梱包または製品の故障を引き起こす可能性があります。臨界周波数と梱包にかかる圧力の種類を特定することで、この故障を最小限に抑えることができます。振動テストは、予想される輸送、設置、使用環境における部品、コンポーネント、および完全な機械の振動耐性を評価することです。一般的な振動モードは、正弦波振動とランダム振動に分けられます。正弦波振動は実験室でよく使用される試験方法で、主に回転、脈動、振動によって発生する振動をシミュレートし、製品構造の共振周波数分析と共振点の居住検証を行います。スイープ周波数振動と固定周波数振動に分けられ、その深刻度は周波数範囲、振幅値、試験期間によって異なります。ランダム振動は、製品の全体的な構造耐震強度評価と梱包状態での輸送環境をシミュレートするために使用され、深刻度は周波数範囲、GRMS、試験期間、軸方向によって異なります。振動によりランプ部品が緩んで内部の相対変位が生じ、溶接不良、接触不良、動作性能の低下が生じるだけでなく、部品にノイズ、摩耗、物理的故障、さらには部品疲労が生じることもあります。このため、Lab Companionは専門的な「LEDランプ振動試験」事業を立ち上げ、ランプの実際の輸送、設置、使用環境で発生する可能性のある振動や機械的衝撃をシミュレートし、LEDランプの耐振動性と関連性能指標の安定性を評価し、損傷や故障を引き起こす可能性のある弱点を見つけ出します。LED製品の全体的な信頼性を向上させ、輸送やその他の機械的衝撃による業界の故障状況を改善します。サービス顧客: LED照明工場、照明代理店、照明ディーラー、装飾会社試験方法:1、LEDランプのサンプル包装を振動試験台に置く。2、振動試験機の振動速度を300 RPMに設定し、振幅を2.54 cmに設定し、振動計を起動します。3、ランプを上記の方法に従って上下、左右、前後の3方向でそれぞれ30分間テストします。結果評価: 振動テスト後、ランプの部品の脱落、構造的損傷、点灯などの異常現象は発生しません。

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• ダブル85恒温恒湿信頼性環境試験（THB）

  Nov 15, 2024

  ダブル85恒温恒湿信頼性環境試験（THB）まず、高温多湿テストWHTOL (Wet High Temperature Operating Life) は一般的な環境ストレス加速テストで、通常は 85℃、相対湿度 85% で、一般的に IEC 60068-2-67-2019 規格に従って実行されます。テスト条件は表に示されています。第二に、テストの原則「ダブル85テスト」は信頼性環境テストの1つで、主に恒温恒湿ボックスで使用され、ボックスの温度を85℃に設定し、相対湿度を85％RHの条件に設定して、テスト製品の老化を加速します。テストプロセスは簡単ですが、テスト製品の多くの特性を評価する重要な方法であるため、さまざまな業界で不可欠な信頼性環境テスト条件となっています。製品を85℃/85%RHの条件下でエージングした後、ランプの光電性能パラメータ、材料の機械的特性、黄色指数など、エージング前後の製品の性能変化を比較します。差が小さいほど良好であり、製品の耐熱性と耐湿性をテストします。製品は、継続的な高温環境で動作する場合、熱故障が発生する可能性があります。また、一部の湿気に敏感なデバイスは、高湿度環境で故障します。デュアル85テストでは、高湿度下で製品が生成する熱応力と、長期的な水分浸透に抵抗する能力をテストできます。たとえば、南部の湿気の多い天候の時期にさまざまな製品が頻繁に故障するのは、主に製品の温度と湿度の耐性が悪いためです。3. 実験的要因LED 照明業界では、多くのメーカーがランプの品質を判断する重要な手段として、ダブル 85 テストの結果を使用しています。LED ランプがデュアル 85 テストに合格しない理由は、次のようにさまざまです。1. ランプ電源：シェルの耐熱性が低い、回路の短絡の危険、保護機構の故障など。2. ランプ構造：放熱体の設計が不合理、取り付けに問題、材質が高温に耐えられない。3. ランプ光源：耐湿性が低く、包装接着剤が劣化し、耐高温性が低い。作業環境温度が厳しいなどの特殊な使用環境に遭遇した場合は、耐高温性と耐低温性をテストする必要があります。テスト方法については、耐高温性と耐低温性テスト プロジェクトを参照してください。4. 顧客へのサービス01. 顧客グループLED照明工場、LED発電所、LEDパッケージ工場02. 検出手段恒温恒湿試験室03. 参照標準電気および電子製品の恒温恒湿試験 - 環境試験 - パート 2: 試験方法 - 試験室: 恒温恒湿試験 GB/T 2423.3-2006。04. サービス内容4.1 標準を参照して、製品に対して二重85テストを実施し、第三者のテスト結果レポートを提供します。4.2 ダブル85テストを通じて製品の分析と改善計画を提供します。

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• 高温炉検査指標

  Nov 14, 2024

  高温炉 検査指標高温炉のテスト基準は何ですか? どのような測定基準がテストされますか? 検出サイクルはどのくらいですか? どの項目がテストされますか?試験項目（参考）：温度均一性試験、システム精度試験、温度、システム精度、温度均一性、高温炉の検証と校正、高温炉（チューブ炉）の検証と校正、箱型抵抗炉（高温炉、熱処理炉）の検証と校正、高温炉（箱型抵抗炉、乾燥炉、熱処理炉）の検証と校正、シリカ試験基準のリスト:1、NCS/ CJ M61; SAE AMS 2750; JJF1376 高温炉校正仕様 NCS/ CJ M61、高温炉校正方法 SAE AMS 2750E、箱型抵抗炉校正仕様 JJF13762、AMS 2750F 高温測定AMS 2750F3、GB 25576-2010 食品安全国家標準 食品添加物シリカ（高温炉法）4、JJF 1184熱電対検証炉温度現場試験技術仕様5、AMS 2750E高温測定AMS 2750E6、AMS 2750F高温測定法3.57、AMS 2750G高温測定AMS 2750G8、AMS 2750E高温測定法19. JJF 1376; AMS 2750; JJG 276 箱型抵抗炉の校正仕様 JJF 1376、高温測定方法 AMS 2750E、高温クリープ、耐久強度試験機検証規定 JJG 27610、JJF 1376箱型抵抗炉校正仕様11、GB / T 9452-2012熱処理炉の有効加熱ゾーンの決定方法112. SAE AMS 2750高温校正方法F

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• 信頼性試験 加速試験

  Nov 09, 2024

  信頼性試験 加速試験ほとんどの半導体デバイスは、通常の使用では何年もの寿命があります。しかし、デバイスの研究に何年も待つことはできません。印加されるストレスを増大させる必要があります。印加されるストレスは、潜在的な故障メカニズムを強化または加速し、根本原因の特定に役立ち、 ラボコンパニオン 障害モードを防ぐための措置を講じます。半導体デバイスでは、温度、湿度、電圧、電流などが一般的な加速要因となります。ほとんどの場合、加速テストによって故障の物理的性質は変わりませんが、観察の時間が変わります。加速条件と使用条件の間の変化は「ディレーティング」と呼ばれます。高度加速テストは、JEDEC ベースの認定テストの重要な部分です。以下のテストは、JEDEC 仕様 JESD47 に基づく高度加速条件を反映しています。製品がこれらのテストに合格した場合、デバイスはほとんどの使用例で許容されます。温度サイクルJESD22-A104 規格では、温度サイクル (TC) はユニットを極端な高温と低温の間の遷移にさらします。このテストは、ユニットをこれらの条件に所定のサイクル数だけさらすことによって実行されます。高温動作寿命 (HTOL)HTOL は、動作条件下の高温でのデバイスの信頼性を判断するために使用されます。このテストは通常​​、JESD22-A108 規格に従って長期間にわたって実行されます。温度湿度バイアス/バイアス高加速ストレステスト (BHAST)JESD22-A110 規格によれば、THB と BHAST は、デバイス内の腐食を加速させる目的で、電圧バイアスをかけながらデバイスを高温高湿度の状態に置きます。THB と BHAST の目的は同じですが、BHAST の条件とテスト手順により、信頼性チームは THB よりもはるかに速くテストを行うことができます。オートクレーブ/非バイアスHASTオートクレーブおよび非バイアス HAST は、高温高湿度条件下でのデバイスの信頼性を判定します。THB および BHAST と同様に、腐食を加速するために実行されます。ただし、これらのテストとは異なり、ユニットはバイアス下でストレスを受けることはありません。高温保管HTS (Bake または HTSL とも呼ばれる) は、高温下でのデバイスの長期信頼性を判断するために使用されます。HTOL とは異なり、テスト中はデバイスは動作条件下にありません。静電気放電 (ESD)静電荷とは、静止している状態での不均衡な電荷です。通常、静電荷は絶縁体の表面が擦れ合ったり引き離されたりすることで発生します。一方の表面は電子を獲得し、もう一方の表面は電子を失います。その結果、静電荷と呼ばれる不均衡な電気状態が発生します。静電気がある表面から別の表面へ移動すると、静電気放電 (ESD) となり、小さな稲妻の形で 2 つの表面間を移動します。静電荷が移動すると、電流となり、ゲート酸化物、金属層、接合部を損傷または破壊する可能性があります。JEDEC は ESD を 2 つの異なる方法でテストします。1. 人体モード（HBM）人体に蓄積された静電気をデバイスを通じて接地に放電する動作をシミュレートするために開発されたコンポーネント レベルのストレス。2. 荷電デバイスモデル（CDM）JEDEC JESD22-C101 仕様に従って、製造装置およびプロセスで発生する充電および放電イベントをシミュレートするコンポーネント レベルのストレス。

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• キセノンランプ老化試験室の加速老化と屋外老化の変換

  Nov 08, 2024

  キセノンランプ老化試験室の加速老化と屋外老化の変換 一般的に言えば、キセノンランプ老化試験室の加速老化と屋外老化の変換について詳細な位置付けと変換式を持つことは困難です。最大の問題は、屋外環境の変動性と複雑さです。キセノンランプ老化試験室の露出と屋外露出の関係を決定する変数は次のとおりです。1. 屋外老化曝露場所の地理的緯度（赤道に近いほど紫外線が多くなります）。2. 高度（高度が高いほど紫外線が多くなります）。3. 風により試験サンプルが乾燥したり、水の近くでは結露が生じたりするなど、地域の地理的特徴が考えられます。4. 年ごとの気候のランダムな変化により、同じ場所でも老化が 2:1 の割合で変化する可能性があります。5. 季節の変化（例：冬の露出は夏の露出の 1/7 になる場合があります）。6. サンプルの方向（南5°と北向きの垂直）7. サンプルの断熱性（断熱裏地付きの屋外サンプルは、断熱されていないサンプルよりも 50% 早く劣化します）。8. キセノンランプエージングボックスの動作サイクル（点灯時間と湿潤時間）。9. 試験室の動作温度（温度が高いほど、劣化が早くなります）。10. サンプルの一意性をテストします。11. 実験室光源のスペクトル強度分布（SPD）客観的に言えば、加速劣化と屋外劣化は互換性がなく、一方が変数で、一方が固定値であるため、絶対値ではなく相対値を取得するしかありません。もちろん、相対値が影響を及ぼさないと言っているわけではありません。逆に、相対値は非常に効果的である場合もあります。たとえば、デザインを少し変更するだけで、標準材料の耐久性が 2 倍になる場合があります。または、複数のサプライヤーから同じ外観の材料が見つかる場合があります。そのうちのいくつかは急速に劣化し、大部分は適度な時間で劣化し、少量は長時間の露出後に劣化します。または、より安価なデザインが、実際の耐用年数 (5 年など) にわたって満足のいくパフォーマンスを発揮する標準材料と同じ耐久性を持つことに気付く場合があります。

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• キセノンランプ耐候性試験チャンバーは、屋外に 1 年間さらされた場合とどのくらいの期間に相当しますか?

  Nov 07, 2024

  どのくらい長いですか？ キセノンランプ耐候性試験室 屋外に1年間さらされた場合と同等ですか?キセノンランプ耐候性試験室は、屋外での 1 年間の暴露にどのくらい相当しますか? 耐久性をテストするにはどうすればよいでしょうか? これは技術的な問題ですが、多くのユーザーもこの問題を懸念しています。本日は、Lab Companion のエンジニアがこの問題について説明します。この問題は非常に単純に見えますが、実際には複雑な問題です。単純な数値を取得することはできません。この数値とキセノンランプ耐候性試験室の試験時間を掛けて、屋外暴露時間を取得しますが、キセノンランプ耐候性試験室の品質が十分ではありません。キセノンランプ耐候性試験室の品質がどれだけ優れていても、どれだけ先進的であっても、数字だけで問題を解決することは依然として不可能です。最も重要なことは、屋外暴露環境が複雑で変化しやすく、多くの要因の影響を受けることです。具体的なものは何ですか？1. 地理的緯度の影響2. 高度の影響3. 風速など、試験時の地理的環境の影響。4. 季節による影響は冬と夏では異なり、夏の暴露は冬の暴露の 7 倍のダメージを与えます。5. 試験サンプルの方向6. サンプルは絶縁されていますか、それとも絶縁されていませんか? 絶縁体の上に置かれたサンプルは、絶縁体の上に置かなかったサンプルよりも一般的にはるかに早く劣化します。7. キセノンランプ耐候性試験室の試験サイクル8.キセノンランプ耐候性試験室の動作温度、温度が高いほど老化が早くなります9. 特殊材料の試験10. 実験室でのスペクトル分布

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