紫外線試験室

• 紫外線加速老化試験室：湿潤結露環境と散水システム

  Mar 05, 2025

  多くの屋外環境では、材料は1日最大12時間湿気にさらされることがあります。研究によると、屋外の湿気の主な原因は雨水ではなく露です。加速老化試験チャンバーは、独自の結露機能により屋外の湿気による浸食をシミュレートします。試験の結露サイクル中、チャンバーの底にある貯水池の水は、 試験室 加熱されて高温の蒸気が発生し、テストチャンバー全体に充満します。高温の蒸気はテストチャンバー内の相対湿度を 100% に維持し、比較的高い温度を保ちます。サンプルはテストチャンバーの側壁に固定されているため、サンプルのテスト表面はテストチャンバー内の周囲の空気にさらされます。サンプルの外側は自然環境にさらされているため、冷却効果があり、サンプルの内側と外側の表面の間に温度差が生じます。この温度差により、凝縮サイクル全体を通じてサンプルのテスト表面に凝縮した液体の水が継続的に生成されます。 屋外暴露中の湿度への暴露時間は 1 日 10 時間以上にもなるため、典型的な結露サイクルは通常数時間続きます。加速老化試験機は、湿度をシミュレートする 2 つの方法を提供します。最も広く使用されている方法は結露法で、屋外の湿気による侵食をシミュレートするのに最適な方法です。加速老化試験機のすべてのモデルは、結露サイクルを実行できます。一部の適用条件では、実際の効果を得るために水噴霧も使用する必要があるため、一部のモデルでは結露サイクルと水噴霧サイクルの両方を実行できます。特定の用途では、水噴霧により、最終的な使用環境条件をより適切にシミュレートできます。水噴霧は、急激な温度変化や雨水の浸食によって引き起こされる熱衝撃や機械的侵食をシミュレートするのに非常に効果的です。実際の特定の使用条件下では、たとえば日光の下で、蓄積された熱が突然のにわか雨により急速に放散すると、材料の温度が急激に変化し、多くの材料のテストである熱衝撃が発生します。チャンバーの水噴霧は、熱衝撃や応力腐食をシミュレートできます。スプレー システムには 12 個のノズルがあり、テスト チャンバーの両側に 6 個のノズルがあります。スプレー システムは数分間実行してからオフにすることができます。この短時間の水噴霧により、サンプルが急速に冷却され、熱衝撃の条件が作り出されます。

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• IEC 61646 薄膜太陽光発電モジュールの試験規格

  Oct 07, 2024

  IEC 61646 薄膜太陽光発電モジュールの試験規格診断測定、電気測定、照射試験、環境試験、機械試験の5種類の試験および検査モードを通じて、薄膜太陽光発電の設計確認および形状承認要件を確認し、モジュールが仕様で要求される一般的な気候環境で長期間動作できることを確認します。IEC 61646-10.1 目視検査手順目的: モジュールの視覚的な欠陥を確認します。IEC 61646-10.2標準試験条件におけるSTCでのパフォーマンス目的：自然光またはAクラスシミュレータを使用して、標準テスト条件（バッテリー温度：25±2℃、放射照度：1000wm^-2、IEC891に準拠した標準太陽スペクトル放射分布）で、負荷変化によるモジュールの電気的性能をテストします。IEC 61646-10.3 絶縁試験目的: 電流を流す部品とモジュールのフレームの間に良好な絶縁があるかどうかをテストするIEC 61646-10.4 温度係数の測定目的: モジュール テストで電流温度係数と電圧温度係数をテストします。測定された温度係数は、テストで使用される照射に対してのみ有効です。線形モジュールの場合、この照射の ±30% 以内で有効です。この手順は、代表的なバッチ内の個々のセルからこれらの係数を測定することを規定する IEC891 に追加されるものです。薄膜太陽電池モジュールの温度係数は、関連するモジュールの熱処理プロセスによって異なります。温度係数が関係する場合は、熱テストの条件とプロセスの照射結果を示す必要があります。IEC 61646-10.5 公称動作セル温度（NOCT）の測定目的: モジュールのNOCTをテストするNOCTにおけるIEC 61646-10.6のパフォーマンス目的: 標準太陽スペクトル放射照度分布条件下での公称動作バッテリー温度と放射照度が 800Wm^-2 の場合、モジュールの電気的性能は負荷に応じて変化します。IEC 61646-10.7 低照度時の性能目的: 自然光またはクラス A シミュレーターで 25℃、200Wm^-2 (適切な参照セルで測定) の負荷がかかった状態のモジュールの電気的性能を決定します。IEC 61646-10.8 屋外暴露試験目的: モジュールの屋外環境への暴露に対する耐性を評価し、実験やテストでは検出できなかった劣化の影響を明らかにすること。IEC 61646-10.9 ホットスポットテスト目的: 包装材料の劣化、バッテリーのひび割れ、内部接続の故障、局所的な陰影やエッジの汚れなど、欠陥の原因となる熱の影響に対するモジュールの耐性を判断します。IEC 61646-10.10 UV試験（UV試験）目的: モジュールが紫外線 (UV) 放射に耐える能力を確認するために、新しい UV テストが IEC1345 に記載されており、必要に応じて、このテストを実行する前にモジュールを光にさらす必要があります。IEC61646-10.11 熱サイクル試験（熱サイクリング）目的: モジュールが繰り返し温度変化による熱不均一性、疲労、その他のストレスに耐える能力を確認します。モジュールは、このテストを受ける前にアニールする必要があります。[Pre-IV テスト] はアニール後のテストを指します。最終 IV テストの前にモジュールを光にさらさないように注意してください。テスト要件:a. テストプロセス全体を通じて各モジュール内の電気的導通を監視するための機器b. 各モジュールの凹んだ端の1つとフレームまたはサポートフレームの間の絶縁の完全性を監視するc. テスト全体を通してモジュールの温度を記録し、発生する可能性のある開回路または接地障害を監視します（テスト中に断続的な開回路または接地障害が発生しないようにします）。d.絶縁抵抗は初期測定と同じ要件を満たす必要があります。IEC 61646-10.12 湿度凍結サイクル試験目的: 高温多湿下でのその後の氷点下温度の影響に対するモジュールの耐性をテストします。これは熱衝撃テストではありません。テストを受ける前に、モジュールをアニールし、熱サイクルテストを実施する必要があります。[[Pre-IV テスト] はテスト後の熱サイクルを指し、最終 IV テストの前にモジュールを光にさらさないように注意してください。テスト要件:a. テストプロセス全体を通じて各モジュール内の電気的導通を監視するための機器b. 各モジュールの凹んだ端の1つとフレームまたはサポートフレームの間の絶縁の完全性を監視するc. テスト全体を通してモジュールの温度を記録し、発生する可能性のある開回路または接地障害を監視します（テスト中に断続的な開回路または接地障害が発生しないようにします）。d. 絶縁抵抗は初期測定と同じ要件を満たす必要があります。IEC 61646-10.13 耐湿熱試験（耐湿熱）目的: モジュールが長期間の水分浸入に耐えられるかどうかをテストする試験要件：絶縁抵抗は初期測定と同じ要件を満たす必要があるIEC 61646-10.14 終端の堅牢性目的: リード端とモジュール本体へのリード端の接続が、通常の設置および操作中に発生する力に耐えられるかどうかを判断すること。IEC 61646-10.15 ねじり試験目的: 不完全な構造にモジュールを設置することで発生する可能性のある問題を検出するIEC 61646-10.16 機械的負荷試験目的: このテストの目的は、モジュールが風、雪、氷、または静的荷重に耐える能力を判断することです。IEC 61646-10.17 雹試験目的: 雹に対するモジュールの耐衝撃性を検証するIEC 61646-10.18 光浸漬試験目的:太陽光照射をシミュレートして薄膜モジュールの電気特性を安定化するIEC 61646-10.19 アニーリング試験（アニーリング）目的: フィルム モジュールは検証テストの前にアニールされます。アニールしないと、その後のテスト手順中の加熱によって、他の原因による減衰が隠れてしまう可能性があります。IEC 61646-10.20 湿潤漏れ電流試験目的: 湿気のある動作条件下でのモジュールの絶縁性を評価し、雨、霧、露、または雪解けによる水分がモジュール回路の通電部分に侵入して腐食、接地障害、または安全上の危険を引き起こすことがないことを確認します。

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