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熱サイクルチャンバー

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  • How to Choose a Thermal Cycling Chamber? Lab Companion TC Series Rapid Temperature Change Chamber Selection Guide How to Choose a Thermal Cycling Chamber? Lab Companion TC Series Rapid Temperature Change Chamber Selection Guide
    Aug 08, 2026
    Avoid Low-Cost Equipment Pitfalls: Save on Hardware, Lose on Certification In industrial procurement of thermal cycling test chambers, many overseas enterprises prioritize low upfront cost over compliance performance. Most budget devices feature nominal temperature ranges but fail to meet strict JEDEC international standard requirements in core hardware accuracy and temperature control stability. This leads directly to certification failures, costly re-tests, wasted R&D cycles, and unnecessary labor losses. TheJESD22-A104 standard defines strict mandatory specifications for temperature ramp rate, temperature uniformity, and 4-stage cyclic control. If buyers only focus on maximum/minimum temperature values while ignoring critical indicators such as ramp accuracy, chamber uniformity, and programmable controller functions, the equipment will not pass official third-party audits. Furthermore, entry-level low-cost chambers lack essential industrial functions including program storage, ramp rate locking, and automatic data logging. Operators must reset parameters manually for every test, resulting in high human error rates and poor test repeatability. The hidden replacement costs—including re-qualification, staff retraining, and project delays—far exceed the initial equipment price difference. To solve global industry pain points, Lab Companion TC Series Rapid Temperature Change Test Chambers are professionally manufactured in China, fully compliant with JESD22-A104 and AEC-Q100 automotive standards. This guide provides a systematic selection framework for global buyers, helping you choose compliant, stable, and cost-effective thermal cycling solutions. 1. Three Mandatory Hardware Thresholds for International Standards As the latest global specification for electronic component thermal cycling testing, JESD22-A104F.01 regulates all single-chamber and multi-chamber air-based thermal cycling systems. Qualified test equipment must satisfy the following three core criteria and adapt to two mainstream industry working conditions. 1.1 Core Mandatory Technical Requirements ① Precise & Lockable Linear Temperature Ramp Rate The standard requires a maximum linear ramp rate of 15℃/min with stable and consistent speed control. Uncontrolled or fluctuating ramp rates will turn standard thermal cycling into thermal shock testing, invalidating all certification data. Certified chambers must support multi-level ramp rate locking to eliminate manual setup errors and ensure standardized test conditions. ② High Temperature Uniformity for Full-Chamber Consistency Uniform temperature distribution across the entire test space is essential to avoid inconsistent sample performance and certification failures. Lab Companion TC Series delivers exceptional stability: temperature fluctuation ≤0.5℃, overall chamber temperature deviation from ±1.5℃ to ±2℃, ensuring high repeatability and fully compliant test results. ③ Independent 4-Stage Programmable Control Standard thermal cycling consists of four independent phases: low-temperature soaking → linear heating → high-temperature soaking → linear cooling. Qualified equipment must support independent programming of heating rate, cooling rate, high/low temperature dwell time, enabling flexible editing and storage of customized test procedures for diverse product validation demands. 1.2 Condition A (Consumer Electronics) VS Condition G (Automotive Grade) ① JESD22-A104 Condition A for Consumer Electronics Temperature range: -55℃~+85℃, 2–3 cycles per hour. Key requirements: stable ramp rate of 10–15℃/min, minimum dwell time of 10 minutes (Mode3). Widely adopted for daily reliability verification of consumer electronic products. ② JESD22-A104 Condition G for Automotive Grade (AEC-Q100) Temperature range: -40℃~+125℃, standard ramp rate of 15℃/min, serving as the core test condition for automotive chip and component certification. Stricter specifications apply: 15℃/min precise linear rate locking and minimum 15-minute high/low temperature soaking to ensure full thermal equilibrium of solder joints and internal structures, guaranteeing valid automotive-grade test data. 2. Lab Companion TC Series Full Range Selection Guide Manufactured in China with strict quality control, the Lab Companion TC Series includes Standard Models and High-End Custom Models. The full product line covers small-scale R&D verification, large-scale finished product testing, consumer electronics, automotive, and new energy industries, fully aligned with global mainstream industrial standards. 2.1 Standard Series: Ideal for Consumer Electronics & General Laboratory Use Core Parameters: Temperature range -70℃~+150℃, standard linear ramp rates of 5℃/min, 10℃/min, 15℃/min, fully covering all JESD22-A104 conditions (A~T). Chamber Volumes: 80L, 150L, 225L, 408L, 800L. The 80L model is specially optimized for single-chip testing and small-batch R&D validation with outstanding cost performance. Application Scenarios: Smartphones, tablets, wearable devices, TWS earphones, passive electronic components (resistors, capacitors, inductors), PCBA boards, and consumer-grade chips. Test data repeatability reaches 99.5%. Procurement Recommendation: Suitable for small and medium-sized enterprises, consumer electronics manufacturers, and chip design laboratories. Standard TC models fully meet daily R&D, mass production sampling, and basic certification testing needs with optimal cost-efficiency. 2.2 High-End Custom Series: For Automotive, New Energy & Power Semiconductors Enhanced Ramp Performance: Supports extended linear ramp rates of 20℃/min and 25℃/min. With optional liquid nitrogen auxiliary cooling, the maximum cooling rate can reach 30℃/min for extreme fast thermal cycling tests. Custom Large Chamber Size: Supports non-standard customized volumes from 80L to 8000L, accommodating oversized samples such as complete modules and finished equipment. Application Scenarios: Automotive control units, IGBT/SiC power semiconductor modules, new energy battery packs, and large-scale industrial electronic devices. Fully compliant with AEC-Q100 automotive certification and new energy reliability standards. Procurement Recommendation: Recommended for automotive component suppliers, power semiconductor manufacturers, new energy vehicle enterprises, and high-level reliability laboratories to meet high-speed temperature cycling and large-size sample testing requirements. 3. Core Procurement Value: Certified Quality & Global Stable Support 3.1 Full Standard Calibration Before Delivery, Ready for Global Certification All Lab Companion TC Series chambers complete full JESD standard calibration and inspection in China before shipment. Core indicators including temperature range, ramp rate, fluctuation, and uniformity are fully verified. The equipment can be directly used for third-party certification without secondary adjustment. It also complies with GB/T 10592, GB/T 2423, GJB 150A, IEC 60068 and other global mainstream reliability standards. 3.2 China Local Manufacturing & Global Online Technical Support Lab Companion owns professional standardized manufacturing bases in China, ensuring strict production quality control and stable product performance. For global overseas customers, online remote technical support is provided throughout the whole lifecycle (no on-site door-to-door service for overseas regions). Our professional international support team offers equipment installation guidance, operational training, fault diagnosis, and regular calibration guidance to maintain long-term standard compliance and stable operation. 3.3 Free Standard Test Program Templates, Zero-Cost Scheme Deployment The intelligent controller supports unlimited program storage, one-click calling, and batch reuse. Preloaded with verified mainstream standard templates including JEDEC_CondA and AEC_CondG, all free of extra customization fees. New operators can directly call standard programs to start tests, eliminating manual parameter errors, greatly improving test efficiency and data consistency, and reducing enterprise trial-and-error costs. 4. Industry-Specific Selection Suggestions ✅ Consumer Electronics & Digital Industry — TC Standard Series For JESD22-A104 Condition A testing of mobile phones, wearables, and consumer terminals, 80L–225L standard models with 10–15℃/min ramp rates perfectly match full-scenario R&D, mass production, and certification demands with the best cost-performance. ✅ Automotive, Power Semiconductor & New Energy Industry — TC High-End Custom Series For AEC-Q100 Condition G automotive-grade testing of vehicle controllers and power modules, 15–25℃/min high-speed customized models with volumes above 408L are preferred. They support precise rate locking and long-term stable compliance, meeting strict high-end certification requirements. Conclusion: Choose Once, Use Stably for Long-Term The core of thermal cycling chamber procurement lies in standard compliance, operational stability, and long-term reliability, not low unit price. Low-cost unqualified equipment will lead to certification failure, repeated tests, and project delays, bringing far higher hidden losses than equipment procurement costs. As a China-manufactured high-quality test equipment brand, Lab Companion TC Series features a wide temperature range, high precision, standardized procedures, intelligent operation, and professional global online support. With standard models for conventional scenarios and customized models for high-end demands, it helps global enterprises select accurate, compliant, and cost-effective thermal cycling test solutions.
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  • OVEN-256-10W 水冷式高温・低温エージング・機能試験システム
    Aug 20, 2025
    オーブン-256-10W は、NVMe SSDの厳格な性能試験要件を満たすように設計された高密度テストシステムで、最大256台のドライブを同時にテストできます。-10℃~85℃の温度範囲で動作し、最新のPCIe Gen5 x4インターフェースとNVMe Ver2.0プロトコル仕様をサポートしています。各テストスロットは、0V~14.5Vの電圧マージンを含むSSD電源電圧の独立した制御機能を備えています。SSD製造テスト用の成熟したフレームワークを基盤とするこのシステムは、EVT、DVT、PVTなどのR&Dパイロットテストから、MP、ORT、ODTなどの量産品質および信頼性テストまで、包括的なサポートを提供します。ユーザーフレンドリーな操作性と柔軟性の高い構成により、SSD製造における生産効率と最終製品の品質を大幅に向上させます。 製品の特徴温度制御範囲: -10°C ~ 85°C;温度変化率: 1°C/分;PCIe Gen5 x4 をサポートします。各テスト ポートの電源電圧はスクリプト プログラミングによって制御でき、調整可能な範囲は 0.6V ~ 14.5V、制御精度は 1mV です。最新の NVMe Ver2.0 プロトコルと互換性があり、ユーザー定義の NVMe コマンドをサポートします。広範なスクリプト ライブラリと強力なデータベース分析システム。LTWolf ソフトウェアは、クライアントの要件に基づいて追加のカスタム機能をサポートします。顧客の MES システムとのシームレスな統合、オプションで生産データ管理システムのカスタマイズが可能。ファイアウォール保護設計により、テスト回路とテスト対象デバイス (DUT) 間の完全な分離が保証されます。EVT、DVT、RDT、TVM などを含む包括的かつ実証済みのテスト アルゴリズム。
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  • 電子部品試験における高温・低温試験室の役割 電子部品試験における高温・低温試験室の役割
    Jan 10, 2025
    電子部品試験における高温・低温試験室の役割高温・低温試験室 電子・電気部品、自動化部品、通信部品、自動車部品、金属、化学材料、プラスチックなどの産業、国防産業、航空宇宙、軍事、BGA、PCB基板レンチ、電子チップIC、半導体セラミック磁性およびポリマー材料の物理的変化に使用されます。その材料が高温と低温に耐える性能と、熱膨張と収縮における製品の化学変化または物理的損傷をテストすることで、製品の品質を確認できます。精密ICから重機部品まで、さまざまな分野の製品テストに不可欠なテストチャンバーになります。高温および低温テストチャンバーは電子部品に何をもたらすのでしょうか? 電子部品は機械全体の基盤であり、固有の欠陥や製造プロセスの不適切な制御により、使用中に時間またはストレス関連の故障を引き起こす可能性があります。部品のバッチ全体の信頼性を確保し、システム全体の要件を満たすには、動作条件下で初期障害が発生する可能性のある部品を除外する必要があります。1. 高温保管電子部品の故障は、主に本体と表面のさまざまな物理的、化学的変化によって引き起こされ、温度と密接な関係があります。温度が上昇すると、化学反応速度が大幅に加速され、故障プロセスが加速されます。欠陥のある部品は、時間内に発見して除去することができます。高温スクリーニングは半導体デバイスで広く使用されており、表面汚染、接合不良、酸化層欠陥などの故障メカニズムを効果的に排除できます。通常、最高接合温度で 24 ~ 168 時間保管します。高温スクリーニングは簡単で安価であり、多くの部品に対して実行できます。高温保管後、コンポーネントのパラメータ性能を安定させ、使用中のパラメータドリフトを減らすことができます。2. パワーテストスクリーニングでは、熱電応力の複合作用により、部品の本体と表面の多くの潜在的な欠陥がよく明らかにされる可能性があり、これは信頼性スクリーニングの重要なプロジェクトです。 各種電子部品は通常、定格電力条件下で数時間から168時間精製されます。 集積回路などの一部の製品は、条件を任意に変更することはできませんが、高温作業モードを使用して作業接合部温度を上げて高ストレス状態を実現できます。 電力精製には、特殊なテスト機器、高温および低温テストチャンバーが必要で、コストが高く、スクリーニング時間が長すぎてはなりません。 民生用製品は通常数時間ですが、軍用高信頼性製品は100、168時間を選択でき、航空グレードの部品は240時間以上を選択できます。3. 温度サイクル電子製品は使用中にさまざまな周囲温度条件に遭遇します。熱膨張と収縮のストレス下では、熱適合性能の悪い部品は故障しやすくなります。温度サイクルスクリーニングは、極度高温と極度低温の間の熱膨張と収縮のストレスを利用して、熱性能に欠陥のある製品を効果的に排除します。一般的に使用される部品スクリーニング条件は、-55〜125℃、5〜10サイクルです。電力精製には特殊な試験装置が必要で、コストが高く、スクリーニング時間も長すぎてはいけません。民生用製品は通常数時間ですが、軍用高信頼性製品では 100、168 時間、航空グレードのコンポーネントでは 240 時間以上を選択できます。4. コンポーネントのスクリーニングの必要性電子部品の固有の信頼性は、製品の信頼性設計に依存します。製品の製造プロセスでは、人的要因や原材料、プロセス条件、設備条件の変動により、最終製品が期待される固有の信頼性をすべて達成できるわけではありません。完成品の各バッチには、常に何らかの潜在的な欠陥や弱点を持つ製品がいくつかあり、特定のストレス条件下では早期に故障する特徴があります。早期故障部品の平均寿命は、通常の製品よ​​りもはるかに短くなります。電子機器が確実に作動できるかどうかは、電子部品が確実に作動できるかどうかにかかっています。初期故障部品が機械設備全体と一緒に取り付けられている場合、機械設備全体の初期故障の故障率が大幅に増加し、信頼性が要求を満たさなくなり、修理にも莫大な費用がかかります。したがって、軍事製品であろうと民間製品であろうと、スクリーニングは信頼性を確保するための重要な手段です。高温および低温テストチャンバーは、電子部品の環境信頼性テストに最適です。
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  • 高温低温試験室のメンテナンス方法 高温低温試験室のメンテナンス方法
    Jan 08, 2025
    高温低温試験室のメンテナンス方法一般的なタイプは3つあります 高温・低温試験室 コントローラー: ソフトウェア障害、システム障害、ハードウェア障害。1、ソフトウェア障害: ソフトウェア障害は主に、高温および低温試験室のコントローラ障害を指し、内部パラメータ、制御点 IS 制御、およびソレノイドバルブのオン/オフの出力信号が含まれます。2、システム障害: システム障害とは、冷凍システムの初期設計上の問題を指します。これには、高温テストチャンバーが冷却されないために発生する冷媒漏れが含まれます。冷媒漏れは、輸送や高温テストチャンバーの動作の不安定さ、または冷凍銅管の溶接プロセスが良好でないなどの理由で発生することがよくあります。3、ハードウェア障害: ハードウェア障害により、ハードウェア コンプレッサー、ソレノイド バルブ、その他の冷却コンポーネントが冷却されなくなる可能性があります。その後、ユーザーは、聞いて触って、ハードウェアの高温および低温テストチャンバーの損傷が何であるかを大まかに理解できます。コンプレッサーの故障であれば、コンプレッサーの音が異常であるか、動作しない、起動しない、またはコンプレッサー自体の温度が通常の温度よりもはるかに高いなどになります。また、ソレノイドバルブの故障やその他の冷凍コンポーネントの故障は、ユーザーが習得するのがあまり得意ではありません。また、コントローラの破損や制御冷凍システムの電子部品の破損により、高温試験室と低温試験室の冷却不能や非冷却の現象が発生する可能性もあります。高温・低温試験室の加熱・冷却の科学的原理:高温低温試験室は加熱、冷却、加湿、除湿の機能があり、製品の耐高温性、耐低温性、耐湿性を検出することができます。高温低温試験室の温度はどのように制御されていますか?加熱装置は、高温および低温試験室の加熱を制御するための重要なリンクです。コントローラは、加熱命令を受け取ると、リレーに電圧を出力します。高温および低温試験室は、ソリッドステートリレーに約3〜12ボルトの直流電流を追加します。高温および低温試験室のAC端はワイヤ接続に相当し、接触器も同時に引き出されます。恒温恒湿試験室を加熱します。冷却は高低温試験室の重要な部分であり、高低温の決定と性能に直接影響します。コンプレッサー、コンデンサー、絞り装置、蒸発器の4つの主要コンポーネントが含まれます。コンプレッサーは冷凍システムの心臓部であり、低温低圧のガスを吸入し、高温高圧のガスに変え、凝縮によって液体になって熱を放出し、ファンを介して熱を奪います。そのため、試験室では熱い空気が発生し、その後、絞りによって低圧の液体になり、その後、低温低圧のガスになって蒸発器を通ってコンプレッサーに戻ります。蒸発器内の冷媒は、高低温室の熱を吸収してガス化プロセスを完了し、熱を吸収して冷凍の目的を達成し、高低温試験室の冷却プロセスを完了します。高温および低温チャンバーの温度と冷却速度のテスト手順:試験室の温度の調整範囲において、最低公称温度を最低冷却温度として選択し、最高公称温度を最高加熱温度として選択した。冷却源を開き、試験室を室温から最低冷却温度まで上げ、少なくとも 3 時間安定させ、最高加熱温度まで上げ、少なくとも 3 時間安定させ、その後最低冷却温度まで上げます。加熱と冷却の間、試験プロセスが終了するまで 1 分ごとに記録します。高低温試験室の加熱と冷却の原理はこのようになっており、その機能の実現は制御システムの設定によって完了します。加熱と冷却の原理を理解することで、高低温試験室の使用がより便利になります。
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  • 温度サイクル試験室の定義と使用 温度サイクル試験室の定義と使用
    Jan 08, 2025
    温度サイクル試験室の定義と使用温度サイクル試験室 は、さまざまな業界で広く使用されている実験装置の一種であり、主な機能は、特定の温度範囲内で製品を循環させ、さまざまな温度環境での製品の動作をシミュレートすることです。この装置は、製品の信頼性テスト、品質管理、製品の性能評価を実現するための重要なツールです。温度サイクル試験室は広く使用されており、航空宇宙、自動車、電子工学、電力、医療などのさまざまな分野での試験に使用できます。航空宇宙分野では、温度サイクル試験室を使用して、極端な温度での航空機部品の性能をテストし、極端な環境での信頼性を確保しています。自動車分野では、温度サイクル試験室を使用して、さまざまな温度と湿度の条件下で自動車部品の性能をテストし、さまざまな環境で車が正常に動作することを保証します。電子工学と電力の分野では、温度サイクル試験室を使用して、さまざまな温度条件下で電子機器の性能と信頼性をテストし、機器が長期間安定して動作することを保証します。医療分野では、温度サイクル試験室を使用して、さまざまな温度と湿度の条件下で医療機器の性能と信頼性をテストし、機器が正常に動作することを保証します。温度サイクル試験室の動作原理は、チャンバー内の温度と湿度を制御してサイクル試験を行うことです。この装置には、定温制御、プログラム温度制御、プログラム温度制御など、さまざまな温度制御モードがあり、必要に応じて選択できます。試験プロセス中、温度サイクル試験室は製品をさまざまな温度環境に置いて試験を行い、さまざまな環境での製品の使用をシミュレートします。試験が完了したら、ユーザーは試験結果に応じて製品を改善およびアップグレードし、製品の信頼性と性能を向上させることができます。簡単に言えば、温度サイクル試験室は、さまざまな業界で広く使用されている実験装置であり、その主な機能は、特定の温度範囲内で製品を循環させて、さまざまな温度環境での製品の動作をシミュレートすることです。この装置は、航空宇宙、自動車、電子機器、電力、医療などのさまざまな分野でのテストに使用でき、製品の信頼性テスト、品質管理、製品の性能評価を実現するための重要なツールです。
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  • ESS 急速温度変化ストレススクリーニングマシン ESS 急速温度変化ストレススクリーニングマシン
    Dec 18, 2024
    ESS 急速温度変化ストレススクリーニングマシン環境ストレススクリーニング(ESS)ストレス スクリーニングとは、設計強度限界下で加速技術と環境ストレスを使用することです。たとえば、バーンイン、温度サイクル、ランダム振動、パワー サイクルなどです。ストレスを加速することで、製品の潜在的な欠陥 [潜在的な部品材料欠陥、設計欠陥、プロセス欠陥、工程欠陥] が明らかになり、電子的または機械的な残留ストレスが排除されるだけでなく、多層回路基板間の浮遊コンデンサも排除され、バスタブ曲線における製品の早期死期が事前に除去および修復されるため、製品は適度なスクリーニングを経て、バスタブ曲線の正常期間と衰退期間を節約し、製品が使用過程で環境ストレスのテストによって故障につながり、不要な損失が発生することを回避できます。ESS ストレス スクリーニングを使用するとコストと時間が増加しますが、製品の出荷歩留まりを向上させ、修復回数を減らすという大きな効果があり、総コストが削減されます。また、顧客からの信頼も向上します。一般的に、電子部品のストレス スクリーニング方法は、事前燃焼、温度サイクル、高温、低温です。PCB プリント基板のストレス スクリーニング方法は温度サイクルです。電子部品のストレス スクリーニングのコストは、事前燃焼、温度サイクル、ランダム振動です。ストレス スクリーニング自体はプロセス段階であるだけでなく、テストではなく、スクリーニングは 100% 製品手順です。急速温度変化ストレススクリーニング装置の製品特徴:1、5°C/分、10°C/分、15°C/分の異なるストレススクリーニング温度変化を設定できます。2、急激な温度変化(ストレススクリーニング)、結露テスト、高温多湿、温湿度サイクルなどのテストを実行できます。3、電子機器製品のストレススクリーニングテストの要件を満たしています。4、等温度と平均温度の2つの試験方法を切り替えることができます。急速温度変化ストレススクリーニング装置の仕様要件:1、さまざまなストレススクリーニング(急速温度変化)5°C /分、10°C /分、15°C /分のテスト条件を設定できます。2、電子機器製品のストレススクリーニング、鉛フリープロセス、MIL-STD-2164、MIL-344A-4-16、MIL-2164A-19、NABMAT-9492、GJB-1032-90、GJB/Z34-5.1.6、IPC-9701などのテスト要件を満たしています。3、等温度および平均温度テストモードを実行できます。4、アルミシートを使用して機械の荷重容量(非塑性荷重)を検証します。
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  • 真空高温試験室 真空高温試験室
    Dec 11, 2024
    真空高温試験室真空高温試験室の特徴:脱泡および酸化防止のための特殊な高温設備。GB/T2423.1(IEC60068-2-1)、GB/T2423.2(IEC60068-2-2)、ISO16750、JESD22、GB/T 14710、GB/T 13543 などの規格に準拠。まず、真空高温試験室の製品概要:新しくシンプルなデザイン。圧力と温度の自動制御プログラムは操作が簡単で機能が高度です。 試験材料の状態を容易に観察できる観察窓(オプション)チャンバー内の二重構造:真空容器の内部は内スロットの二重構造になっており、内チャンバーの外側にヒーターが設置されているため、熱損失が低減され、温度均一性が向上し、温度上昇時間が大幅に短縮され、設備の稼働率が向上します。幅広い用途:脱泡、脱ガス、硬化、乾燥などに使用できます。LED製造工程における脱泡処理時の樹脂液混合やシリコーン液、各種樹脂成形時の脱ガス処理、IC注入時のエポキシ樹脂硬化処理、電子部品の水洗浄後の乾燥、真空高温試験室はこれらのすべての工程で使用できます。第二に、真空高温試験室の異なるモデル: モデル番号 温度範囲内部容積タイプ内部サイズ(幅×高さ×奥行mm)外寸(幅×高さ×奥行mm)VAC-101P+40~+200℃91L気圧範囲:933~1[*102Pa](abs)450×450×450902×1,392×780VAC-201P+40~+200℃216L気圧範囲:933~1[*102Pa](abs)600×600×6001,052×1,532×930VAC-301P+40~+200℃512L気圧範囲:933~1[*102Pa](abs)800×800×8001,252×1,772×1,130モデル番号温度/圧力範囲内部サイズ(幅×高さ×奥行mm)LCV-234(RT+20)°C~+200°C / 0-101kPa(ゲージ)450×450×450LCV-244550×550×550
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  • 新しいエネルギー環境試験ソリューション 新しいエネルギー環境試験ソリューション
    Dec 10, 2024
    新しいエネルギー環境試験ソリューション新エネルギーの信頼性の問題は依然として困難であり、電気的ストレスと環境ストレスの統合検出システムは、研究開発と製造に最適な手段を提供します。業界テスト対象使用テクノロジー解決新エネルギーバッテリー(二次電池)検査する充電・放電テスト高温・低温(&湿度)試験室 急速温度(湿度)変化試験室 評価する特性テスト 急速温度(湿度)変化試験室 燃料電池/耐熱性小型超低温試験室高温・低温(&湿度)試験室 急速温度(湿度)変化試験室 
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  • 情報通信環境試験ソリューション 情報通信環境試験ソリューション
    Dec 09, 2024
    情報通信環境試験ソリューション統計分析によると、電子部品の故障は電子機械全体の故障の50%を占めており、信頼性検出技術は依然として多くの課題に直面しています。業界テスト対象使用テクノロジー解決ITコミュニケーション伝送スイッチング装置検査する高温配置テスト高温・低温(&湿度)試験室老化テスト高温・低温(&湿度)試験室評価する熱サイクル試験高温・低温(&湿度)試験室テルコルディアテスト高温・低温(&湿度)試験室熱サイクル試験 急速温度(湿度)変化試験室 携帯通信端末検査する動作テスト終了高温・低温(&湿度)試験室動作テスト終了 急速温度(湿度)変化試験室 評価する温度と湿度のテスト高温・低温(&湿度)試験室コンピューター検査する完成品のスクリーニング 急速温度(湿度)変化試験室 高温配置テスト高温・低温(&湿度)試験室老化テスト高温・低温(&湿度)試験室外部コンピュータストレージデバイス検査するコンポーネントのスクリーニング高温・低温(&湿度)試験室コンポーネントのスクリーニング 急速温度(湿度)変化試験室 評価する温度と湿度の範囲内での動作テストを確実に実施高温・低温(&湿度)試験室温度と湿度の範囲内での動作テストを確実に実施 急速温度(湿度)変化試験室 
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  • 熱サイクル試験(TC)と熱衝撃試験(TS) 熱サイクル試験(TC)と熱衝撃試験(TS)
    Nov 19, 2024
    熱サイクル試験(TC)と熱衝撃試験(TS)熱サイクル試験(TC):製品のライフサイクルでは、さまざまな環境条件に直面する可能性があり、その結果、製品の脆弱な部分が現れ、製品の損傷や故障が発生し、製品の信頼性に影響を与えます。 温度変化に対する一連の高温および低温サイクル試験は、1分間に5~15度の温度変化率で行われますが、これは実際の状況をシミュレートするものではありません。その目的は、試験片にストレスを与え、試験片の老化係数を加速し、試験片が環境要因の下でシステム機器およびコンポーネントに損傷を与える可能性があることで、試験片が正しく設計または製造されているかどうかを判断することです。 一般的なものは次のとおりです。製品の電気的機能潤滑剤が劣化し、潤滑性が失われる機械的強度が失われ、ひび割れや亀裂が生じる材料の劣化は化学反応を引き起こす 適用範囲:モジュール/システム製品環境シミュレーションテストモジュール/システム製品争いテストPCB/PCBA/はんだ接合加速ストレステスト (ALT/AST)... 熱衝撃試験(TS):製品のライフサイクルでは、さまざまな環境条件に直面する可能性があり、その結果、製品の脆弱な部分が現れ、製品の損傷や故障が発生し、製品の信頼性に影響を与えます。 1 分あたり 40 度の温度変動による急激な温度変化を伴う極めて過酷な条件下での高温および低温衝撃試験は、真の意味でのシミュレーションではありません。その目的は、試験片に過酷なストレスを与えて試験片の老化係数を加速し、試験片が環境要因下でシステム機器およびコンポーネントに潜在的な損傷を引き起こす可能性があることで、試験片が正しく設計または製造されているかどうかを判断することです。 一般的なものは次のとおりです。製品の電気的機能製品構造が損傷したり、強度が低下したりしている部品の錫割れ材料の劣化は化学反応を引き起こすシールの損傷 機械仕様:温度範囲: -60 °C ~ +150 °C回復時間: < 5分内寸:370×350×330mm(奥行×幅×高さ) 適用範囲:PCB信頼性加速試験車両電気モジュールの加速寿命試験LED部品の加速試験... 温度変化による製品への影響:部品のコーティング層が剥がれ、ポッティング材やシーリング材が割れ、さらにはシーリングシェルが割れ、充填材が漏れ、部品の電気性能が低下します。異なる材料で構成された製品は、温度が変化すると製品が均一に加熱されず、製品が変形したり、密封された製品が割れたり、ガラスやガラス製品、光学部品が破損したりします。大きな温度差により、低温では製品の表面が凝縮または凍結し、高温では蒸発または溶解し、このような動作が繰り返される結果、製品の腐食が促進されます。 気温変化による環境への影響:割れたガラスと光学機器。可動部分が固くなったり緩んだりしています。構造は分離を生み出します。電気の変更。急速な結露または凍結による電気的または機械的な故障。粒状または縞状に割れる。材質によって収縮や膨張の特性が異なります。部品が変形または破損しています。表面コーティングのひび割れ。格納容器内の空気漏れ。
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  • ラボコンパニオン - 急速温度サイクル試験チャンバー ラボコンパニオン - 急速温度サイクル試験チャンバー
    Nov 13, 2024
    ラボコンパニオン - 急速温度サイクル試験チャンバーラボコンパニオンの紹介20年以上の経験を持つ ラボコンパニオン は、環境チャンバーの世界的メーカーであり、ターンキーテストシステムと機器の優れたサプライヤーです。当社のチャンバーはすべて、長寿命と優れた信頼性で定評のある Lab Companion の製品です。 Lab Companion は、設計、製造、サービスの範囲で、国際品質システム規格 ISO 9001:2008 に準拠した品質管理システムを確立しています。Lab Companion の機器校正プログラムは、A2LA により国際規格 ISO 17025 および米国国家規格 ANSI/NCSL-Z-540-1 の認定を受けています。A2LA は、国際試験所認定協力機構 (ILAC)、アジア太平洋試験所認定機構 (APLAC)、および欧州認定協力機構 (EA) の正会員であり、署名者でもあります。 Lab Companion の SE シリーズ環境試験チャンバーは、大幅に強化された気流システムを備えており、より優れた勾配と製品温度変化率の向上を実現します。これらのチャンバーは、タッチ スクリーン ユーザー インターフェイスを備えた高解像度 12.1 インチ フラット パネル ディスプレイ、グラフ、データ ログ、編集、オンスクリーン ヘルプへのアクセス、および長期ハード ドライブ データ ストレージなどの拡張機能を備えた Thermotron の主力製品 8800 プログラマー/コントローラーを活用しています。当社は最高品質の製品を提供するだけでなく、最初の販売後も長期間にわたってお客様が継続してご利用いただけるよう設計された継続的なサポートも提供しています。当社は、必要な部品の豊富な在庫を備えた工場直送の現地サービスを提供しています。 パフォーマンス温度範囲: -70°C ~ +180°C性能: 23 Kg のアルミニウム負荷 (IEC60068-3-5) の場合、+85°C から -40°C への上昇率は 15℃/分、-40°C から +85°C への冷却率も 15℃/分です。温度制御:制御センサーで安定後、制御点からの乾球温度±1℃性能は、周囲温度75°F(23.9°C)、湿度50%の条件下で測定されます。供給空気流内の制御センサーでの測定に基づく冷房/暖房性能構造インテリアニッケル含有量の高い非磁性シリーズ300ステンレス鋼ライナーの気密性を高めるために内部の継ぎ目をヘリアーク溶接するコーナーと継ぎ目は、極端な温度変化でも伸縮できるように設計されている。凝縮水排出口はライナーフロアとコンディショニングプレナムの下に設置されていますチャンバーベースは完全に溶接されています「ウルトラライト」沈下しないグラスファイバー断熱材調節可能なステンレススチール製の棚が標準装備外観型成形処理鋼板電気部品のドアを簡単に開けられるように金属製のアクセスカバーが付属しています。仕上げは水性の自然乾燥ラッカーで、洗浄して下塗りした表面にスプレーします。冷蔵システムのメンテナンス用に、簡単に取り外し可能なヒンジ式アクセスドア直径12.5cmのアクセスポート1つ。内部溶接と取り外し可能な絶縁プラグが右側の壁のアクセサリに取り付けられており、簡単にアクセスできるようにヒンジドアに取り付けられています。特徴チャンバー操作では、実行時の役立つ情報が明確に表示されます。グラフ画面は、拡張機能、強化されたプログラミングとレポートを提供しますシステムステータスは重要な冷凍システムパラメータを表示しますプログラムエントリを使用すると、プロファイルの読み込み、表示、編集が簡単になりますセットアップのクイックステップウィザードでプロファイルの入力が簡単になります便利な参照用ポップアップ冷凍チャートTherm-Alarm®は温度超過および温度不足のアラーム保護を提供しますアクティビティログ画面では包括的な機器履歴が表示されますWebサーバーはイーサネット経由で機器へのインターネットアクセスを可能にします使いやすいポップアップキーパッドでデータ入力が素早く簡単に行えます含まれるもの:- USB ポート 4 つ - 外部 2 つ、内部 2 つ- イーサネット- RS-232技術仕様1~4個の独立してプログラム可能なチャンネル測定精度: 標準スパンの0.25%選択可能な°Cまたは°Fの温度スケール12.1インチ(30 cm)カラーフラットパネルタッチスクリーンディスプレイ分解能: 0.1°C、0.1%RH、その他の線形アプリケーションの場合は0.01リアルタイムクロック搭載サンプルレート: プロセス変数は0.1秒ごとにサンプリングされます比例帯: 1.0°~300°までプログラム可能制御方式: デジタル間隔: 無制限間隔分解能: 1秒から99時間59分まで、1秒単位- RS-232- 10年以上のデータ保存- 製品温度制御- イベントリレーボード動作モード: 自動または手動プログラムストレージ: 無制限プログラムループ:- プログラムごとに最大64ループループは最大9,999回まで繰り返すことができます- 1つのループあたり最大64個のネストされたループが許可されます
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  • 薬物安定性試験 薬物安定性試験
    Oct 31, 2024
    薬物安定性試験医薬品の有効性と安全性は多くの注目を集めており、国や政府が重視する生活問題でもあります。医薬品の安定性は、有効性と安全性に影響を与えます。医薬品と保管容器の品質を保証するために、安定性試験を実施して、医薬品の有効期間と保管状態を決定する必要があります。安定性試験では、主に医薬品の品質が温度、湿度、光などの環境要因の影響を受けるかどうか、時間の経過とともに変化するかどうか、およびそれらの相関関係を研究し、医薬品の劣化曲線を研究します。これに基づいて、医薬品の使用時の有効性と安全性を保証するための有効期間を推定します。この記事では、お客様の参考のために、さまざまな安定性試験に必要な標準情報と試験方法をまとめています。まず、薬物安定性試験基準医薬品の保管条件: 保管条件(注2)長期実験25℃±2℃ / 60%±5%RHまたは 30℃±2℃ /65%±5% 相対湿度加速試験40℃±2℃ / 75%±5%RH中間テスト(注1)30℃±2℃ / 65%±5%RH注1:長期試験条件が30℃±2℃/65%±5%RHに設定されている場合は中間試験は不要です。長期保管条件が25℃±2℃/60%±5%RHで、加速試験で大きな変化があった場合は、中間試験を追加し、「大きな変化」の基準に照らして評価する必要があります。注2:ガラスアンプルなどの密封された不浸透性容器は湿度条件を免除することができます。特に指定がない限り、すべての試験は中間試験の安定性試験計画に従って実施する必要があります。加速試験データは 6 か月間利用可能である必要があります。安定性試験の最小期間は、中期試験および長期試験の場合 12 か月です。 冷蔵庫に保管してください: 保管条件長期実験5℃±3℃加速試験25℃±2℃ / 60%±5%RH 冷凍庫に保存: 保管条件長期実験-20℃±5℃加速試験5℃±3℃水や溶媒損失の恐れのある溶媒を含む製品を半透性容器に包装する場合は、半透性容器に入れた薬剤が低相対湿度環境に耐えられることを証明するために、長期間の低相対湿度下での安定性評価、または12か月の中間試験と6か月の加速試験を実施する必要があります。 水または溶剤を含む 保管条件長期実験25℃±2℃ / 40%±5%RHまたは30℃±2℃ /35%±5% 相対湿度 加速試験40℃±2℃;≤25%RH中間テスト(注1)30℃±2℃ / 35%RH±5%RH注1:長期試験条件が30℃±2℃ / 35%±5%RHの場合は中間試験はありません。 40℃の一定温度における相対水分損失率の計算は次のとおりです。代替相対湿度(A)相対湿度(R)を制御する水分損失率比([1-R]/[1-A])60%RH25%RH1.960%RH40%RH1.565%RH35%RH1.975%RH25%RH3.0図: 半透性容器に入れられた水性薬剤の場合、25%RH での水分損失率は 75%RH での 3 倍になります。 第二に、薬物安定性ソリューション一般的な薬物安定性試験基準(出典:保健福祉省食品医薬品局)アイテム保管条件長期実験25°C /60% RH加速試験40°C /75%RH中間テスト30°C/65%RH (1)広い温度範囲の試験アイテム保管条件長期実験低温または氷点下の気温加速試験室温と湿度または低温条件 (2)試験装置1. 恒温恒湿試験室2. 薬物安定性試験室
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